導(dǎo)電粉體堆砌體積電阻率的測(cè)試方法研究

編號(hào)：FTJS00588

篇名：導(dǎo)電粉體堆砌體積電阻率的測(cè)試方法研究

作者：李雪飛; 韓婷婷; 張巖; 胡潔; 鄭元鎖;

關(guān)鍵詞：金屬材料; 銀粉; 粉體; 導(dǎo)電; 體積電阻率;

機(jī)構(gòu)： 西安交通大學(xué)理學(xué)院;

摘要： 設(shè)計(jì)了一種金屬粉體導(dǎo)電特性的表征方法,以銀粉為測(cè)試樣本,采用堆砌體積電阻率表征粉體的導(dǎo)電特性。分別考察了填充量、測(cè)試負(fù)荷、測(cè)試穩(wěn)定時(shí)間等因素對(duì)銀粉堆砌體積電阻率的影響。結(jié)果表明當(dāng)銀粉填充量為4 g、測(cè)試負(fù)荷為800 g和測(cè)試穩(wěn)定時(shí)間為30 min時(shí),所得實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以準(zhǔn)確反映銀粉的堆砌體積電阻率。