編號：NMJS05784
篇名：Au納米耦合結構表面等離激元的EELS分析
作者：張奚寧[1] ;童利民[2] ;蒲繼雄[1]
關鍵詞：納米結構 耦合結構 Au 電子能量損失譜 表面等離激元
機構： [1]華僑大學信息科學與工程學院,福建廈門361021; [2]浙江大學光電科學與工程學院,浙江杭州310027
摘要： 應用透射電子顯微鏡中電子能量損失譜儀（TEM-EELS）,對電子束激發(fā)的單晶Au納米線耦合結構及單晶/多晶納米薄膜的表面等離激元（SPs）特征進行分析.結果表明：直徑約為10nm的兩單晶Au納米線平行耦合時,單根納米線和耦合結構中均存在位于2.4eV的SPs共振,耦合結構中SPs的縱模數(shù)增加;單晶及多晶Au納米薄膜在1.4eV附近存在SPs模式,相較于單晶薄膜,多晶Au納米薄膜的SPs共振峰位出現(xiàn)明顯紅移.
