編號:NMJS00165
篇名:低密度聚乙烯–蒙脫土納米復(fù)合材料的電樹枝生長特性
作者:章華中; 李劍; 梁勇; 楊麗君; 廖瑞金; 趙玉順;
關(guān)鍵詞:低密度聚乙烯; 蒙脫土; 納米復(fù)合材料; 電樹枝; 局部放電; 高電壓絕緣技術(shù);
機構(gòu): 輸配電裝備及系統(tǒng)安全與新技術(shù)國家重點實驗室(重慶大學(xué));
摘要: 絕緣材料的電樹枝生長特性分析是評估其絕緣性能的重要方法之一。采用熔融插層復(fù)合法制備了一種低密度聚乙烯–蒙脫土納米復(fù)合材料,設(shè)計制作了納米復(fù)合材料的電樹枝生長試樣及實驗系統(tǒng),在實驗中觀測了恒定電壓下試樣中電樹枝生長過程及電樹枝形態(tài),測量了試樣中電樹枝的生長速度與擴散系數(shù),分析了電樹枝的局部放電統(tǒng)計特性。通過分析低密度聚乙烯–蒙脫土納米復(fù)合材料的結(jié)晶行為,說明了納米蒙脫土對該納米復(fù)合材料中電樹枝的抑制機制。實驗與分析結(jié)果表明:納米蒙脫土粒子有效提高了低密度聚乙烯的結(jié)晶度并減小了晶粒尺寸。同時,納米蒙脫土粒子有利于降低納米復(fù)合材料電樹枝局部放電量與放電重復(fù)率,延緩了電樹枝的引發(fā)與生長。
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