幾種不同產(chǎn)地高嶺土的漫反射傅里葉紅外光譜分析

編號：CPJS00556

篇名：幾種不同產(chǎn)地高嶺土的漫反射傅里葉紅外光譜分析

作者：李小紅; 江向平; 陳超; 涂娜;

關鍵詞：漫反射紅外; 高嶺石; 結(jié)晶度;

機構： 江西省先進陶瓷材料重點實驗室; 景德鎮(zhèn)陶瓷學院;

摘要： 分別采用壓片法與漫反射法測得幾種不同產(chǎn)地高嶺土的紅外吸收譜圖,解析了各高嶺土的結(jié)構特征與吸收峰值的關系,發(fā)現(xiàn)利用漫反射傅里葉紅外光譜技術,經(jīng)K-M函數(shù)校正的紅外譜圖較壓片法靈敏度高,也更準確,解析更簡單;依據(jù)對高頻區(qū)3700～3600cm-1波數(shù)段高嶺石OH基特征吸收峰的吸收情況,可快速判斷高嶺石結(jié)晶度,結(jié)果與X射線衍射技術所測Hinckley指數(shù)(Hi)一致。