編號(hào)：NMJS07186
篇名：利用光學(xué)對(duì)比鑒定石墨烯和硒化銦的層數(shù)
作者：汪喆 趙藝 郝巧燕 劉季冬 柯宇軒 張文靜
關(guān)鍵詞： 物理電子學(xué) 石墨烯 硒化銦 層數(shù)鑒定 光學(xué)對(duì)比 拉曼 原子力顯微鏡
機(jī)構(gòu)： 深圳大學(xué)物理與光電工程學(xué)院
摘要： 石墨烯和硒化銦是兩種性能極佳的二維材料,其性能會(huì)隨著層數(shù)的變化而發(fā)生改變.光學(xué)對(duì)比法可用于快速鑒定石墨烯和硒化銦的層數(shù).通過多光束平行平板干涉模型,計(jì)算出1~4層的樣品在單拋氧化硅片上的理論反射率對(duì)比值;采用機(jī)械剝離的方法,制備1~4層的樣品,利用共聚焦拉曼光譜儀和原子力顯微鏡對(duì)其層數(shù)加以明確;利用ImageJ軟件求取樣品與襯底的紅色波段色度值和綠色波段色度值,進(jìn)而計(jì)算出實(shí)際反射率對(duì)比值.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,1~4層樣品實(shí)際反射率對(duì)比值與理論反射率對(duì)比值的誤差均小于6%。本研究方法具有一定的準(zhǔn)確性和速效性,為快速鑒定石墨烯和硒化銦的層數(shù)提供了理論基礎(chǔ)和實(shí)驗(yàn)支持。
