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粉末粒度對現(xiàn)代X射線粉末衍射儀測量的影響

編號:CYYJ01667

篇名:粉末粒度對現(xiàn)代X射線粉末衍射儀測量的影響

作者:王春建 許艷松 周烈興

關鍵詞: X射線衍射 物相分析 粉末粒度 Zn3 As_( 2) 衍射峰

機構(gòu): 昆明理工大學分析測試研究中心

摘要: 對Zn3As 2材料研磨,共獲取6種不同粒度分布的試樣,研究了粒度分布對現(xiàn)代X射線粉末衍射儀測量的影響,結(jié)果發(fā)現(xiàn):試樣粒度的變化對衍射峰位置、高度和中高測量角度范圍內(nèi)的半高寬影響顯著。粒度的減小使衍射峰的位置偏差趨于穩(wěn)定、衍射峰高度則普遍增加;粒度較大時,中高測量角度范圍內(nèi)的半高寬變化劇烈,當粒度足夠細致時,半高寬的變化趨于平緩。

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