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納米結(jié)構(gòu)ZnO在TiO_2薄膜上的電化學(xué)沉積及其表征

編號:NMJS00461

篇名:納米結(jié)構(gòu)ZnO在TiO_2薄膜上的電化學(xué)沉積及其表征

作者:林景升; 付薇; 井立強; 屈宜春; 李志君;

關(guān)鍵詞:氧化鋅; 納米棒陣列; 電化學(xué)沉積; 二氧化鈦納米薄膜; 光致發(fā)光;

機構(gòu): 功能無機材料化學(xué)教育部重點實驗室; 黑龍江大學(xué)化學(xué)化工與材料學(xué)院;

摘要: 在三電極體系中,以硝酸鋅水溶液作為電解液,采用陰極還原電沉積法成功實現(xiàn)了一維納米結(jié)構(gòu)ZnO陣列在TiO2納米粒子/ITO導(dǎo)電玻璃薄膜基底上的沉積,并通過XRD、SEM、EDS和PL光譜等方法對樣品進行了表征.重點研究了薄膜基底、電解液濃度、沉積時間、六次亞甲基四胺(HMT)的引入對ZnO沉積及其發(fā)光性質(zhì)的影響.結(jié)果顯示:與ITO玻璃基底相比,ZnO更易于在TiO2納米粒子薄膜上實現(xiàn)電化學(xué)沉積.ZnO屬于六方晶系的鉛鋅礦結(jié)構(gòu),并且沿著c-軸方向表現(xiàn)出明顯的擇優(yōu)化生長,以形成垂直于基底的ZnO納米棒陣列.延長沉積時間、增加電解液濃度和引入一定量的HMT等均對ZnO的生長有促進作用,進而使其納米棒的結(jié)晶度和取向程度提高,進而解釋了所得的薄膜分別約在375和520nm處表現(xiàn)出ZnO的強而窄的帶邊紫外光發(fā)射峰和弱而寬的表面態(tài)綠光發(fā)射帶.

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