編號：NMJS08350
篇名：電子探針技術(shù)測定稀有多金屬礦中微量元素硅鉭鎢的實(shí)驗(yàn)條件設(shè)定
作者：徐爽 徐聰聰 郭騰達(dá) 林培軍 李鳳春 王繼林 顧清宇 欒日堅(jiān) 張玉強(qiáng) 李增勝 楊慧 魏瑋
關(guān)鍵詞： 稀有多金屬礦床 硅 鉭 鎢 電子探針 譜線干擾
機(jī)構(gòu)： 中國冶金地質(zhì)總局山東局測試中心 山東省地質(zhì)礦產(chǎn)勘查開發(fā)局八〇一水文地質(zhì)工程地質(zhì)大隊(duì) 山東省地質(zhì)科學(xué)研究院
摘要： 近年來對稀有多金屬礦的研究越來越趨向于微區(qū)化、微量化,作為其重要研究手段之一,電子探針定量分析在微量元素測試方面取得很大的進(jìn)展。在微量測試過程中,除了增大測試束流,提高測試時(shí)間來降低檢出限以外,更要注意去除來自其他元素,特別是主量元素的干擾。在日常測試稀有多金屬樣品的過程中,Si、Ta、W三個(gè)元素存在相互干擾,這種干擾對影響微量元素的測試結(jié)果,且因含量低不易被察覺,從而影響最終結(jié)論的準(zhǔn)確性。本文以SPI標(biāo)樣公司的SiO;、金屬Ta和W為研究對象,查明Si、Ta、W三者之間在不同測試條件下的干擾關(guān)系并給出建議:硅酸鹽測試中,Si建議使用TAP-Kα,Ta和W建議使用LIF-Lα;鈮鉭礦測試中,Si、Ta、W建議分別使用PET-Kα、PET-Mα和TAP-Mβ,并配合Ta對Si的干擾校正測試結(jié)果更為準(zhǔn)確。
