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鎳鋁類水滑石修飾玻碳電極對(duì)槲皮素痕量檢測(cè)研究

編號(hào):CYYJ02878

篇名:鎳鋁類水滑石修飾玻碳電極對(duì)槲皮素痕量檢測(cè)研究

作者:白小慧 邢艷 杜芳艷 馬向榮 何奇

關(guān)鍵詞: 鎳鋁類水滑石 槲皮素 玻碳電極 伏安法

機(jī)構(gòu): 榆林學(xué)院化學(xué)與化工學(xué)院

摘要: 用滴涂法制備了鎳鋁類水滑石修飾玻碳電極(Ni2+-Al3+-LDHs/GCE),通過 FT-IR、SEM 對(duì)修飾電極進(jìn)行了表征。采用循環(huán)伏安法(CV)、方波伏安法(SWV)等電化學(xué)方法研究了槲皮素在該修飾電極上的電化學(xué)行為。結(jié)果表明:該修飾電極對(duì)槲皮素具有良好的電催化活性。在優(yōu)化的條件下,用方波伏安法測(cè)得槲皮素的峰電流 Ipa與其濃度 c 在 3.0×10-6-5.0×10-8mol·L-1范圍內(nèi)有良好的線性關(guān)系,線性方程為 I (μA)=0.664 1 c-0.011 6,γ2=0.998 5。檢出限(S/N=3)為 1.75×10-8mol·L-1,該方法用于槐花和洋蔥提取液中槲皮素濃度的測(cè)定,測(cè)得槐花中槲皮素質(zhì)量分?jǐn)?shù)為 0.94%,洋蔥中槲皮素質(zhì)量分?jǐn)?shù)為 0.003 4%。該修飾電極制備方法簡(jiǎn)單、靈敏度高、重現(xiàn)性和穩(wěn)定性好,為槲皮素痕量檢測(cè)提供了新的方法。

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