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高質(zhì)量二維WTe2薄膜的可控制備及電輸運性能研究

編號:FTJS10298

篇名:高質(zhì)量二維WTe2薄膜的可控制備及電輸運性能研究

作者:趙新 盧志紅 張振華 肖楊 馮金地 甘凌霄

關鍵詞: 二維材料 WTe2薄膜 WCl6 前驅(qū)體 磁電阻率 平面霍爾電阻 電輸運性能

機構: 武漢科技大學材料學部

摘要: 以WCl6為前驅(qū)體,采用化學氣相沉積法制備二維WTe2薄膜材料。借助X射線衍射儀、拉曼光譜、原子力顯微鏡、綜合物性測量系統(tǒng)等探究了前驅(qū)體用量對二維WTe2薄膜質(zhì)量的影響并對薄膜的電輸運性能進行表征。結果表明,在500℃下,僅需10 min的生長時間就可以獲得大面積的WTe2薄膜,且薄膜厚度隨前驅(qū)體用量的減少而減薄。WCl6前驅(qū)體為0.6 g時所制多層二維WTe2薄膜在溫度為10 K、磁場強度為50000 Oe下的磁電阻率為1.54%,該磁電阻率仍未達到飽和。樣品平面霍爾電阻隨電場和磁場夾角變化而周期性變化,表明所制WTe2薄膜具有和塊體WTe2相似的電輸運特性。

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