編號(hào)：FTJS01276
篇名：X-射線熒光光譜直接壓片法測(cè)定氧化鋁中雜質(zhì)Ga_2O_3含量
作者：張曉平;
關(guān)鍵詞：X-射線熒光光譜儀; 直接壓片法; 氧化鋁; Ga2O3;
機(jī)構(gòu)： 包頭鋁業(yè)有限公司;
摘要： 用X-射線熒光光譜直接壓片法測(cè)定氧化鋁中雜質(zhì)Ga2O3含量。該方法快捷方便,準(zhǔn)確度、精密度高,能滿足科研和工業(yè)生產(chǎn)的需要。
