編號：NMJS00935
篇名：半導(dǎo)體納米線的原位應(yīng)變研究
作者：王巖國;
關(guān)鍵詞：原位電子顯微鏡; 半導(dǎo)體納米線; 設(shè)計; 控制;
機(jī)構(gòu)： 中國科學(xué)院物理研究所;
摘要： 利用原位電子顯微方法對半導(dǎo)體納米線進(jìn)行了原位應(yīng)變研究,結(jié)果表明:在軸向壓應(yīng)力的作用下,ZnSe納米線可以發(fā)生明顯的塑性形變,導(dǎo)致納米線發(fā)生大應(yīng)變。通過在納米尺度上控制壓力探針位移的精度,可實(shí)現(xiàn)對納米線應(yīng)變的準(zhǔn)確控制,進(jìn)而達(dá)到納米線應(yīng)變量的可設(shè)計性和可控制性。
