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熒光分光光度法測定-γ(2,3環(huán)氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷修飾的納米二氧化硅表面的環(huán)氧基團

編號:NMJS01219

篇名:熒光分光光度法測定-γ(2,3環(huán)氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷修飾的納米二氧化硅表面的環(huán)氧基團

作者:常志顯; 李德亮;

關(guān)鍵詞:熒光分光光度法; -γ(2; 3環(huán)氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷; 納米二氧化硅; 環(huán)氧基團;

機構(gòu): 河南大學環(huán)境與分析科學研究所;

摘要: 建立了熒光分光光度法測定γ-(2,3環(huán)氧丙氧)丙基三甲氧基硅烷修飾的納米二氧化硅(GPTMS-SiO2)表面環(huán)氧基團含量的方法.討論了銨鹽的種類和濃度、pH值、乙酰丙酮的濃度、溫度和時間對熒光強度的影響及熒光產(chǎn)物的穩(wěn)定性.結(jié)果表明:當環(huán)氧基官能團的濃度在0.002 0~0.029 1 mmol.L-1范圍內(nèi),熒光強度與其濃度呈良好的線性關(guān)系,r=0.997 9.該方法重現(xiàn)性好、準確度較高,可用于GPTMS-SiO2表面環(huán)氧基團含量的測定.

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