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適配體修飾金硒納米合金共振散射光譜法檢測痕量Hg2+

編號:NMJS01883

篇名:適配體修飾金硒納米合金共振散射光譜法檢測痕量Hg2+

作者:蔣治良; 張軼; 覃惠敏; 周蓮平; 梁愛惠; 王鵬飛; 歐陽輝祥;

關(guān)鍵詞:汞離子; 核酸適配體; 金硒納米合金; 共振散射光譜法;

機構(gòu): 廣西師范大學(xué)環(huán)境與資源學(xué)院珍稀瀕危動植物生態(tài)與環(huán)境保護(hù)省部共建教育部重點實驗室;

摘要: 用硼氫化鈉還原法制備了金硒(AuSe)納米合金。用單鏈核酸適配體(aptamer)修飾AuSe納米合金制備了汞離子的核酸適配體納米探針(Apta-AuSe)。在pH 6.8 Na2HPO4-NaH2PO4緩沖溶液中及NaCl存在下,Apta-AuSe納米探針亦不聚集;當(dāng)Hg2+存在時,它可以穩(wěn)定aptamer序列中的T-T錯配,形成較穩(wěn)定的雙鏈T-Hg2+-T錯配物,從而使釋放出來的AuSe納米合金聚集形成較大的微粒,導(dǎo)致590 nm處共振散射峰增強。Hg2+濃度在1.3~1 466 nmol.L-1范圍內(nèi)與共振散射光強度呈良好線性關(guān)系,其回歸方程和檢出限分別為ΔI590 nm=0.603c+2.0和0.74 nmol.L-1。該方法用于水樣中Hg2+的檢測,結(jié)果滿意。

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