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硫酸電解液濃度對多孔氧化鋁膜的影響

編號:CPJS01070

篇名:硫酸電解液濃度對多孔氧化鋁膜的影響

作者:王曉燕; 翟秀靜; 張廷安; 符巖; 鄭雙;

關(guān)鍵詞:H2SO4電解液; 陽極氧化; 電解液濃度; 有序度;

機(jī)構(gòu): 東北大學(xué); 沈陽航空工業(yè)學(xué)院;

摘要: 在H2SO4電解液中對高純鋁箔進(jìn)行陽極氧化,考察分析了電解液濃度對多孔陽極氧化鋁膜的影響,結(jié)果表明:隨硫酸電解液濃度的增加,納米孔孔徑逐漸增大,孔密度降低,孔的有序性先提高后降低;采用23 V直流電壓進(jìn)行陽極氧化,電解液濃度為0.6~1.0 mol/L時(shí)制得的氧化鋁膜孔徑均勻性及有序度均較好,尤其以0.8 mol/L H2SO4最佳;陽極氧化鋁膜的厚度隨電解液濃度的提高而增大;電解液濃度過高易于將鋁箔快速擊穿。

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