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掃描電鏡中納米線彈性模量的原位測量方法

編號:CSJS00043

篇名:掃描電鏡中納米線彈性模量的原位測量方法

作者:莫日根; 施雨; 張友生; 閆允杰; 陳常強(qiáng); 周武; 陳家煒; 朱靜;

關(guān)鍵詞:彈性模量; 納米線; 原位; 電致振動; 單軸拉伸;

機(jī)構(gòu): 北京電子顯微鏡中心先進(jìn)材料教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室清華大學(xué)材料系;

摘要: 彈性性能是材料最基本的力學(xué)性能之一。隨著樣品尺寸減小,納米材料(如納米線)的彈性模量可能偏離塊體材料的值,而其準(zhǔn)確測量是認(rèn)識這一尺寸效應(yīng)的前提。本文基于自行設(shè)計(jì)制作的納米操縱臺和納米壓電馬達(dá),討論了在掃描電鏡中原位測量納米線彈性模量的兩種主要方法,即電致振動和單軸拉伸方法。通過分析電致振動模式,確立了納米線固有頻率的判定準(zhǔn)則,從而保證了彎曲模量的準(zhǔn)確測量;通過建立包含五個(gè)運(yùn)動自由度的測量系統(tǒng),并選擇合適的加載懸臂,實(shí)現(xiàn)了拉伸模量的準(zhǔn)確測量。

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