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GPCVD法低溫合成納米金剛石薄膜

編號:NMJS02825

篇名:GPCVD法低溫合成納米金剛石薄膜

作者:葛大勇; 趙慶勛; 楊保柱; 何雷;

關(guān)鍵詞:納米; 金剛石薄膜; 輝光等離子體輔助熱絲化學(xué)氣相沉積法;

機(jī)構(gòu): 河北大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院;

摘要: 為了在低溫襯底(<500℃)上制備出高品質(zhì)納米金剛石薄膜,使用輝光等離子體輔助熱絲化學(xué)氣相沉積法,用甲烷、高純氫為源氣體,P型Si(100)為襯底材料,在低溫條件下合成了納米金剛石薄膜,利用Langmuir探針對合成過程進(jìn)行了實(shí)時原位診斷,研究了電子溫度Te和電子密度ne的空間變化規(guī)律,探討薄膜生長機(jī)理。對所合成的樣品,利用掃描電子顯微鏡、Raman光譜儀、X射線衍射進(jìn)行了分析。結(jié)果表明,實(shí)驗(yàn)所得樣品為高品質(zhì)、結(jié)晶完善、表面光滑的納米金剛石薄膜,SEM形貌表明薄膜中晶粒的粒度為40~90 nm,Raman光譜在1 331.5 cm-1處出現(xiàn)了金剛石的(111)特征聲子峰。XRD譜在2θ=43.907、5.30處出現(xiàn)了金剛石的(111)(、220)特征衍射峰。實(shí)驗(yàn)得出了低溫合成納米金剛石薄膜的最佳工藝條件:①甲烷體積百分比濃度為0.6%;②反應(yīng)室氣壓為5 kPa;③氣體流量在1 100~1 300 mL/min范圍內(nèi)成核密度較高,并以(100)(、111)面為主,晶粒的平均粒度小于100 nm;在流量為1 300 mL/min時,晶粒的生長表現(xiàn)為一定的定向生長。

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