編號：NMJS02921
篇名：水含量對PI/SiO2納米雜化薄膜微觀結(jié)構(gòu)的影響
作者：牛穎； 張明艷；
關(guān)鍵詞：聚酰亞胺； 二氧化硅； 納米雜化； 水含量； 微觀形貌；
機(jī)構(gòu)： 大慶醫(yī)學(xué)高等專科學(xué)�；瘜W(xué)教研室； 哈爾濱理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院；
摘要： 用溶膠-凝膠法合成了聚酰亞胺/二氧化硅(PI/SiO2)納米雜化薄膜,并采用傅立葉變換紅外光譜(FT-IR)和掃描電子顯微鏡(SEM)分析水含量對PI/SiO2雜化薄膜的化學(xué)結(jié)構(gòu)和微觀結(jié)構(gòu)的影響。結(jié)果表明:水含量對PI/SiO2微觀結(jié)構(gòu)影響很大。當(dāng)SiO2與水含量摩爾比為1∶6時(shí),SiO2能均勻分散在PI基質(zhì)中,團(tuán)聚的SiO2粒徑均小于20 nm。當(dāng)SiO2與水含量摩爾比為1∶8時(shí),部分團(tuán)聚的SiO2粒徑超過100 nm。
