編號：NMJS02998
篇名：界面層對高強度聚焦超聲所致焦斑的影響
作者：李全義； 盧濤； 秦艷； 李發(fā)琪；
關鍵詞：納米磁性顆粒； 界面層； 焦斑； 高強度聚焦超聲(HIFU)；
機構： 深圳武警邊防醫(yī)院； 重慶醫(yī)科大學生物醫(yī)學工程系； 重慶醫(yī)科大學醫(yī)學超聲工程研究所； 重慶市-科技部共建醫(yī)學超聲工程重點實驗室；
摘要： 用納米鐵磁性顆粒膠合體制作界面層,用同一劑量高強度聚焦超聲(HIFU)在該界面層下方不同深度定點輻照。結果顯示:焦點上緣與聲學界面重合時,HIFU所致焦斑/損傷點(lesion)的體積增大,說明聲學界面能夠提高治療效率;當焦點距離界面層10mm時,焦點處HIFU所致焦斑/損傷點的大小和形態(tài)與對照組相似,而界面處出現(xiàn)另一較大的損傷點,此時界面對HIFU治療的的安全性產(chǎn)生重大的影響;當焦點距離聲波界面30mm時,焦點處HIFU所致焦斑/損傷點的大小和形態(tài)與對照組相似。隨著界面層厚度的減小,治療安全區(qū)域不斷擴大,增效作用降低。
