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面議型號
MICROTEST品牌
產地
北京樣本
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產品綜合介紹:
掃描電鏡原位拉伸臺是一種動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發(fā)揮了重要作用。在掃描電鏡上進行材料試驗,可以充分利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對材料的力學性能進行動態(tài)研究。
Deben公司MICROTEST系列樣品臺可以為很多材料做拉伸測試,如金屬材料(研究韌斷過程、應力誘發(fā)相變及塑性變形),高分子材料,陶瓷材料等。通過掃描電鏡對微觀結構的形態(tài)變化進行原位成像,從而深入理解形態(tài)變化的原因并對變化的原因并對變化時刻進行成像。結合對動態(tài)實驗的信息可以克服對傳統(tǒng)的應力/應變數據解釋的不確定因素。針對拉伸、擠壓和彎曲測試,我們提供很多款裝置,負載范圍從2N到5000N。
MICROTEST原位拉神臺針對SEM而特殊設計,有四個版本可以使用,分別為較大載荷范圍200N、300N、2000N、5000N的拉神臺。
1.MICROTEST200系列拉伸臺
動態(tài)測試臺,在SEM內外都能操作。大200N負載,可以進行拉伸、壓縮實驗,可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST200B可以實現(xiàn)垂直三點彎曲。
2.MICROTEST300系列拉伸臺
動態(tài)測試臺,在SEM內外都能操作。大300N負載,可以進行拉伸、壓縮實驗,可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST200B可以實現(xiàn)垂直三點彎曲。
3.MICROTEST2000系列拉伸臺
MICROTEST2000系列拉神臺和MICROTEST2000E動態(tài)測試樣品臺模塊,大載荷2000N,在掃描電鏡(SEM)里面和外面都可以使用。MICROTEST2000可以工作在拉伸或壓縮模式,并可選配水平彎曲夾具。MICROTEST
2000B 設計用于垂直3-/4-點彎曲夾具。MICROTEST 2000E拉伸臺設計用于配置EBSD的掃描電鏡研究(MICROTEST
2000ES室溫版本,MICROTEST 2000EW水冷版本,是加熱夾具的基本配置,同事可以選配EH2000升級為可實現(xiàn)加熱狀態(tài)下拉伸測試)。
4.MICROTEST5000系列拉神臺
MICROTEST5000是一個可工作于拉伸或壓縮模式的高載荷(5000N)動態(tài)測試樣品臺模塊,可以進行拉伸、壓縮實驗,可配水平方向上3或4點彎曲。(MICROTEST5000S為室溫版本,MICROTEST5000W為水冷版本,是加熱夾具的基本配置,同時可以選配H5000升級為同時進行加熱或冷卻狀態(tài)下的拉伸測試)。
品牌介紹
美國Deben公司成立于1964年并于70年代末進入中國市場。Deben公司以其產品的高性能及技術的先進性在全球電鏡界享有極高聲譽。
作為****的設計和制造用于增強和拓展電子顯微鏡功能的附件廠商,其產品涵蓋了從樣品制備到成像、分析等所有步驟的需求。產品應用范圍包括材料科學、生命科學、地球物理學、電子學,能源科學等領域,
客戶范圍涵蓋全球的科研院所,高校,各類檢測機構及大型工業(yè)企業(yè)實驗室,并且在國際科學研究領域得到了廣泛認同。
經銷商介紹
歐波同有限公司是中國**的微納米技術服務供應商,是一家以外資企業(yè)作為投資背景的高新技術企業(yè),總部位于香港,分別在北京、上海、遼寧、山東等地設有分公司和辦事處。作為蔡司電子顯微鏡、Deben掃描電子顯微鏡制樣設備及附屬分析設備在中國地區(qū)重要的戰(zhàn)略合作伙伴,公司秉承"打造國內影響力的儀器銷售品牌"的經營理念,與蔡司,Deben品牌強強聯(lián)合,正在為數以萬計的中國用戶提供高品質的產品與國際尖端技術服務。
產品主要技術特點:
1、大載荷范圍:200N、300N、2000N和5000N
2、可更換的稱量傳感器量程小到2N
3、應變速率:5μm/min - 6 mm/min
4 、可選3點和4點水平彎曲附件
5、EBSD樣品專用附件
6 、加熱和水冷臺上配備的定制鉗口
7、簡單的軟件用戶界面提供了實時應力應變曲線,結合靈活的閥值可以進行復雜的實驗,包括循環(huán)負載。
8、支持同步圖像和數據采集,可以通過應力應變對樣品變化過程進行細節(jié)分析。
產品主要應用領域:
1、金屬及鍍層:用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及松弛機理、晶粒旋轉及織構變化。
2、復合材料:用于研究材料韌性及強度
3、纖維:研究材料強度
4 、聚合物:用于研究塑性流動及失效機制
5、脆性材料:研究微小裂縫的起源及鈍化現(xiàn)象
6 、地質學:研究巖石的熱壓縮實驗及冰巖芯的冷變形機制
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