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NS-90Z 納米粒度及電位分析儀

用途：
NS-90Z 納米粒度及電位分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體，聚合物，生物顆粒等的尺寸和表面電位測量，能廣泛應(yīng)用于精細化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的開發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品開發(fā)及質(zhì)控的通用測試儀器。

NS-90Z 納米粒度及電位分析儀是珠海歐美克儀器有限公司在2018年成功引進和吸收馬爾文帕納科公司（Malvern Panalytical）的納米顆粒表征技術(shù)的NS-90納米粒度分析儀開發(fā)基礎(chǔ)上，進一步將Zeta電位的功能加入其中推出的新一代產(chǎn)品。NS-90Z同時具有優(yōu)越的粒徑分析和電位分析功能，滿足廣大納米材料、制劑的開發(fā)和生產(chǎn)用戶的顆粒尺寸和表面電位的測試需求。該儀器使用13° 電泳光散射測定zeta電位，13° + 90° 動態(tài)光散射技術(shù)測量粒子和分子粒度，應(yīng)用靜態(tài)光散射技術(shù)測定蛋白質(zhì)與聚合物的分子量的功能。NS-90Z融合馬爾文帕納科M3-PALS相位分析檢測技術(shù)，和全球化供應(yīng)鏈的優(yōu)質(zhì)光電部件，例如標配的進口雪崩式光電二極管（APD）檢測器和He-Ne氣體激光器等，加上精確的內(nèi)部溫控技術(shù)，密閉光纖光路以及先進軟件算法，保障了數(shù)據(jù)的高重復(fù)性、準確性和靈敏度，使得儀器可以分析寬廣的粒徑、濃度及電位范圍的樣品。NS-90Z支持SOP標準操作，以及測量數(shù)據(jù)智能評估，方便用戶使用。

光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計圖：

工作原理

NS-90Z 納米粒度及電位分析儀在一種緊湊型儀器中集成了三種技術(shù)：

動態(tài)光散射 13° + 90° 散射角來測量粒子和分子粒度。該技術(shù)可測量布朗運動下移動顆粒的擴散情況，并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉(zhuǎn)化為粒度與粒度分布。

液體中的粒子由于周圍的溶劑分子撞擊產(chǎn)生隨機布朗運動。小粒子在液體中運動速度較快，而大顆粒運動相對緩慢。這種運動一直都在進行，所以如果我們?nèi)∫恍《螘r間間隔拍攝樣品運動“圖像”，我們可以看出粒子移動了多少，并且換算出它有多大。相同時間內(nèi)，如果位移比較小，粒子位置接近，則樣品中粒子較大；相反地，如果位移較大，粒子位置變化很大，則樣品中粒子較小。這種利用擴散速度與粒徑之間的關(guān)系測定粒子的大小的方法即為動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)，也稱為光子相關(guān)光譜（PCS）技術(shù)。

靜態(tài)光散射技術(shù)是測量一段時間內(nèi)散射光的時間平均強度。因這個時間平均光強不能反應(yīng)信號隨時間的動態(tài)變化，故稱為“靜態(tài)光散射”。靜態(tài)光散射法中，通過檢測不同濃度下樣品的散射光強，并且繪制德拜圖（Debye Plot）計算出平均分子量。

粒子產(chǎn)生的散射光強度正比于重均分子量的平方以及粒子濃度。在此測量方法中，檢測一系列不同濃度下樣品的散射光強（kC/R），將該數(shù)值與標準物（如甲苯）產(chǎn)生的散射光強進行比較，即可得到德拜圖。德拜圖中的擬合直線斜率為第二維里系數(shù)（2nd Virial Coefficient, A2），擬合直線外延到零濃度的數(shù)值為平均分子量的倒數(shù)（1/MW）。分子量單位為 Da（Dalton） 或g/mol。   

激光多普勒微量電泳法可用于測量zeta電位。分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動，其運動速度和zeta電位直接相關(guān)。使用激光相干技術(shù) M3-PALS （相位分析光散射法）檢測其速率。 這樣可以計算電泳遷移率，并由此利用Herry方程計算zeta電位，精確測量多種樣品類型和分散介質(zhì)，包括高濃度鹽和非水性分散劑。M3-PALS 技術(shù)的應(yīng)用，成功解決了毛細管電滲對測試的影響，并且在一次測試過程中同時得到zeta電位平均值和分布曲線。

分散介質(zhì)中顆粒、分子或者蛋白質(zhì)獲得的電荷由其表面電荷、周圍溶液離子濃度及離職類型決定，表面電荷代表了分散體系或者溶液的穩(wěn)定性。這就意味著，穩(wěn)定性可以通過改變pH值、離子濃度、離子類型并使用諸如表面活性劑及聚合物電解質(zhì)等添加劑進行改良。

適用體系：水相或有機相中穩(wěn)定存在，或做緩慢沉降運動的顆粒。典型體系包括：金屬、有機顆粒、蛋白質(zhì)、聚電解質(zhì)、無機氧化物、乳液、漿料、煤黑、油墨及炭黑等等。

儀器特點：

【先進的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計】

單模式和多模式光纖的結(jié)合應(yīng)用，盡可能減少雜散光，提高信噪比。結(jié)合不同的測試模式，大大提高了低電泳遷移率的帶電粒子zeta電位檢測的準確性和可重復(fù)性。

M3-PALS技術(shù)，有效檢測散射光的相位變化。

能夠有效檢測高鹽濃度環(huán)境和有機相中顆粒電泳運動。

分辨不同種類顆粒的電泳遷移，完全消除電滲的影響。

同時提供zeta電位平均值和zeta電位分布。

90°和13°相結(jié)合的雙角度測量模式。

經(jīng)典的90°光散射，符號ISO 13321，配合高靈敏度APD檢測器及混合模式光纖技術(shù)，能測量粒徑小于1nm的樣品，如蔗糖。

13°下檢測，能分辨微量穩(wěn)定存在的大顆粒。

雙角度同時檢測，獲得團聚度參數(shù)。

【功能豐富的軟件優(yōu)化用戶體驗】

 提供標準操作程序（SOP）簡化常規(guī)測量；自動調(diào)節(jié)各種樣品的優(yōu)良設(shè)置；操作簡單，無須準直、校正或保養(yǎng)；智能化，可自動判斷數(shù)據(jù)報告的質(zhì)量。

【高性能檢測器】

  使效率高的雪崩式光電二極管（APD）檢測器，靈敏度遠高于光電倍增管（PMT）。成本高但保障優(yōu)的測試性能。

【研究級數(shù)字相關(guān)器】

 使用高速數(shù)字相關(guān)器，4000通道，采樣時間低至25ns。

【穩(wěn)定的激光光源和光路系統(tǒng)】

 采用高穩(wěn)定He-Ne 氣體激光器確保數(shù)據(jù)的重復(fù)性，波長633nm，功率 4mW?？稍?00000:1的動態(tài)范圍內(nèi)自動調(diào)節(jié)激光衰減器。

【精確的內(nèi)部控溫系統(tǒng)】

獨立的循環(huán)溫控槽可在0℃ – 90℃ 范圍內(nèi)任意設(shè)定，其控制精度達0.1℃，保障高重現(xiàn)性。亦可選裝120℃ 溫控槽。

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軟件功能：

1. 使用先進軟件技術(shù)和界面，操作簡單。

2. 全自動設(shè)置和測量：只需簡單的培訓(xùn)即可設(shè)置儀器，包括樣品池位置、數(shù)據(jù)記錄、分析和結(jié)果顯示。

3. 支持SOP標準操作程序，確保操作的一致性和數(shù)據(jù)重復(fù)性。

4. 測量數(shù)據(jù)的完全評估：儀器軟件可根據(jù)測試條件自動判斷數(shù)據(jù)報告的質(zhì)量。

5. 打印或屏幕顯示報告使用簡單；含報表設(shè)計器，只需在指定的位置選擇圖形和輸入?yún)?shù)，就可根據(jù)不同的需要定制不同的報告。

6. 樣品數(shù)據(jù)和結(jié)果存儲在測量文件中，方便進行數(shù)據(jù)的比較。

7. 數(shù)據(jù)分析：數(shù)據(jù)以圖形或表格的形式給出，分布算法適合各種樣品包括單分散樣品，寬分布樣品以及多種模式樣品。

技術(shù)參數(shù)：