參考價(jià)格
面議型號(hào)
ST2263型品牌
晶格電子產(chǎn)地
蘇州樣本
暫無誤差率:
0.5%波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:
-靈敏度:
高分辨率:
0.5%重現(xiàn)性:
-儀器原理:
電阻式計(jì)數(shù)分散方式:
-測(cè)量時(shí)間:
-測(cè)量范圍:
10.0×10^-4 ~ k×200.0×10^3 Ω-cm探測(cè)器:
-加速電壓:
-電子槍:
-電子光學(xué)放大:
-光學(xué)放大:
-通道數(shù):
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ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀
二、概述
ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高正確度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。
主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入;具有零位、滿度自校功能;測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式;儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成,也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示,也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
測(cè)試臺(tái)選配:一般四探針法測(cè)試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測(cè)試臺(tái)。
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
3.1 測(cè)量范圍
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
電 阻:1×10-5~2×105 Ω ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑:SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7 外形尺寸:
主機(jī) 220mm(長(zhǎng))×245 mm(寬)×100mm(高)
聯(lián)系人:王經(jīng)理
聯(lián)系電話:13656 225155
微信:13656 225155
該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高正確度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
在當(dāng)今全球電動(dòng)化趨勢(shì)加速發(fā)展的背景下,鋰電池作為新能源汽車和儲(chǔ)能系統(tǒng)的核心部件,其需求量急劇增長(zhǎng)。然而,隨著電動(dòng)車和儲(chǔ)能設(shè)備的廣泛應(yīng)用,面對(duì)龐大的退役電池量,如何高效、環(huán)保地回收鋰電池成為了一項(xiàng)緊迫而
今日,杭州孫氏鋁業(yè)有限公司的客戶攜帶氧化鋁粉末來到蘇州晶格,進(jìn)行專業(yè)的粉末電阻率測(cè)試。為滿足客戶需求,蘇州晶格的技術(shù)人員采用了多款粉末電阻率測(cè)試儀,全面測(cè)試氧化鋁粉末的導(dǎo)電性能。在此次測(cè)試中,技術(shù)團(tuán)隊(duì)
近日,江蘇某新材料有限公司為驗(yàn)證其新研發(fā)的二氧化鋯包覆材料粉末電阻率性能,特地來到蘇州晶格科技有限公司進(jìn)行專業(yè)測(cè)試。蘇州晶格作為國(guó)內(nèi)粉末電阻率測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)軍企業(yè),憑借其高精度、高效率的測(cè)試儀器以及卓越