參考價格
1-5萬元型號
普賽斯S型品牌
普賽斯儀表產(chǎn)地
武漢樣本
暫無誤差率:
0.1%分辨率:
100pA重現(xiàn)性:
無儀器原理:
其他分散方式:
數(shù)字測量時間:
s測量范圍:
±300uV-±300V/±100pA-±1A看了數(shù)字源表IV測試納米材料的用戶又看了
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數(shù)字源表IV測試納米材料概述
納米材料,定義為粒徑在1-100納米之間一類超細材料,具有表面效應、小尺寸效應、宏觀量子隧道效應等一些特殊物理化學性能。由于結(jié)構(gòu)有比表面積大,粒徑小,表面原子比例高等特點,使得納米材料在電學、熱力學以及催化等多個方面有獨特的性能,被稱作21世紀**發(fā)展前景的材料。
隨著納米材料在不同領域的廣泛應用,新型納米材料的研發(fā)具備了與往不同的特征,如納米發(fā)電材料,納米溫差材料,納米傳感器等。由于納米材料的種類,以及功能眾多,因此,納米材料的測試面臨如下測試挑戰(zhàn):
測試信號微弱,納米材料測試多為樣品研發(fā)試驗階段,需要測試樣品在單位面積產(chǎn)生的電壓或電流微弱信號。尤其是電流信號,可低至nA,甚至pA級。因此,這就要求測試儀表,具有準確的微弱信號檢測能力。
外部噪聲干擾,由于納米材料測試信號弱,且部分材料特性易受外部環(huán)境變化干擾,這就需要在測試中對與測試無關的外部環(huán)境噪聲,進行有效屏蔽。比如采用四線制測試,降低線損壓降;采用三同軸Guard方式降低線纜漏電流等等方式。
測試方式多樣,多數(shù)納米材料在光,熱,濕度等外部環(huán)境的激勵下,具有一定的響應特征。因此,在對納米材料的研發(fā)中,常需要測試樣品在不同外界激勵源的響應輸出能力。多樣化的測試,使得測試儀表具備多種測試功能,如進行恒壓測試,I-V掃描測試,V-t測試,脈沖測試,多通道測試等。
利用數(shù)字源表進行納米材料電特性表征
實施電性能參數(shù)表征分析的**工具之一是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表作為獨立的電壓源或電流源,可輸出恒壓、恒流、或者脈沖信號,還可以當作表,進行電壓或者電流測量;支持Trig觸發(fā),可實現(xiàn)多臺儀表聯(lián)動工作;針對有機OFET類型的三端類型納米器件以及多樣品驗證測試,可直接通過2臺數(shù)字源表或者插卡式源表搭建完整的多通道IV測試系統(tǒng)。
S系列源表打造納米材料溫差器件測試方案
該方案主要針對納米材料溫差器件,在不同溫度激勵下,測試其輸出電壓以及輸出電流數(shù)據(jù)。如下圖所示,整套測試系統(tǒng)構(gòu)成包括,1臺S系列源表、溫度控制器,待測器件、測試連接線以及上位機軟件組成測試電路。采用兩電極測試方法對器件的輸出電壓進行測試,將源表的高低電勢夾頭連接于器件輸出端,隨著溫度的變化,在數(shù)字源表中獲得開路電壓或者輸出電流數(shù)據(jù)。
輸出電壓測試連接示意圖
輸出電流與輸出電壓測試曲線
S系列/CS系列源表打造納米水伏發(fā)電材料測試方案
該方案主要用于,測試納米水伏發(fā)電材料其輸出電壓以及輸出電流隨時間變化的曲線,以驗證不同結(jié)構(gòu)材料的發(fā)電性能。如下圖所示,整套測試系統(tǒng)構(gòu)成包括,1臺S系列源表或者CS插卡式多通道源表,待測器件、測試連接線以及上位機軟件組成測試電路。采用二線制的測試方法,對樣品期間兩端的輸出電壓或者電流進行持續(xù)采集,在數(shù)字源表中獲得I-t或者V-t數(shù)據(jù)。
納米水伏發(fā)電材料測試連接圖
V-T曲線和I-T曲線
S系列/CS系列源表打造納米有機晶體管器件測試方案
輸出特性曲線測試
在施加不同的柵壓(VGS)時,源漏電流 ISD隨著源漏電壓 VDS變化而變化得出的曲線,稱之為輸出特性曲線。
輸出特性測試曲線
轉(zhuǎn)移特性曲線測試
在施加不同的源漏電壓 VDS下,源漏電流 IDS隨著柵壓VGS的變化而變化得出的曲線,稱之為轉(zhuǎn)移特性曲線。
轉(zhuǎn)移特性測試曲線
數(shù)字源表IV測試納米材料認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;武漢普賽斯一直專注于納米材料,傳感器,半導體器件等電性能測試儀表開發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術平臺優(yōu)勢,率先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖源表、集成插卡式源表等產(chǎn)品。產(chǎn)品具有測試精度高,微弱信號檢測能力強的特點,可夠根據(jù)用戶測試需求配置高效,高性價比的納米材料測試方案,可廣泛應用在納米材料,傳感器,半導體器件等產(chǎn)品的研發(fā),生產(chǎn)領域。
武漢普賽斯一直專注于納米材料,傳感器,半導體器件等電性能測試儀表開發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術平臺優(yōu)勢,率先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖源表、集成插卡式源表等產(chǎn)品。產(chǎn)品具有測試精度高,微弱信號檢測能力強的特點,可夠根據(jù)用戶測試需求配置高效,高性價比的納米材料測試方案
數(shù)字源表測試氣體傳感器方案利用數(shù)字源表源(SMU)設備進行氣體傳感器電性能測試 I-V測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應。根據(jù)待測器件(DUT)的不同,信號電平可能相
2022-11-04