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面議型號(hào)
鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300品牌
金埃譜產(chǎn)地
北京樣本
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SEM3300 是全新一代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，分辨率優(yōu)于2.5nm。特殊的電子光路設(shè)計(jì)，突破鎢燈絲分辨率極限，在低電壓 1 kV 下，達(dá)到 5 nm 的分辨率。
擁有出色的成像質(zhì)量、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
產(chǎn)品參數(shù)
| 電子光學(xué)系統(tǒng) | 電子槍類型 | 預(yù)對(duì)中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍 |
| 分辨率 | 2.5 nm @ 20 kV | |
| 4 nm @ 3 kV | ||
| 5 nm @ 1 kV | ||
| 放大倍率 | 1 x～300,000 x | |
| 加速電壓 | 0.1 kV～30 kV | |
| 成像系統(tǒng) | 探測(cè)器 | 二次電子探測(cè)器（ETD）、鏡筒內(nèi)電子探測(cè)器 |
| *背散射電子探測(cè)器、*能譜儀EDS等 | ||
| 圖像保存格式 | TIFF、JPG、BMP、PNG | |
| 真空系統(tǒng) | 真空模式 | 優(yōu)于5×10-4 Pa |
| 控制方式 | 全自動(dòng)控制 | |
| 樣品室 | 攝像頭 | 光學(xué)導(dǎo)航 |
| 樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控 | ||
| 樣品臺(tái)配置 | 五軸自動(dòng) | |
| 軟件 | 語言 | 中文 |
| 操作系統(tǒng) | Windows | |
| 導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航 | |
| 自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散 |
暫無數(shù)據(jù)！
摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料，因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑，比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響，硬脂酸鎂的比表面積越大，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計(jì)算模型 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（三） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（二） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（一） 動(dòng)、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
6月，國(guó)儀量子客戶成功團(tuán)隊(duì)在全國(guó)范圍內(nèi)成功開展了【儀心儀意】客戶服務(wù)季活動(dòng)，通過深入寧夏、青海、哈爾濱、大連、武漢、廣東等多地客戶現(xiàn)場(chǎng)，開展專項(xiàng)服務(wù)與培訓(xùn)，切實(shí)保障客戶儀器穩(wěn)定運(yùn)行。01寧夏大學(xué)在寧夏
此次平臺(tái)建設(shè)中，我們明確選用國(guó)產(chǎn)FIB（國(guó)儀量子DB550）設(shè)備。這一決策不僅響應(yīng)了國(guó)家科技自立自強(qiáng)的號(hào)召，也將在實(shí)際應(yīng)用中驗(yàn)證國(guó)產(chǎn)設(shè)備的技術(shù)實(shí)力。——杭州電子科技大學(xué)電子信息大儀中心主任兼掃描電鏡技
不忘初心 砥礪前行6月30日，為慶祝中國(guó)共產(chǎn)黨成立104周年，國(guó)儀量子黨支部組織全體黨員開展了主題黨日活動(dòng)，國(guó)儀量子公司黨員和董事長(zhǎng)賀羽參加。
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性，對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升，芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí)，Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域，芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”，覆蓋在芯片表面，隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利
鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300的工作原理介紹？鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300的使用方法？鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300多少錢一臺(tái)？鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300使用的注意事項(xiàng)鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300的說明書有嗎？鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300的操作規(guī)程有嗎？鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300有現(xiàn)貨嗎？鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300包安裝嗎？
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