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PCI共同光路干涉弱吸收測(cè)量?jī)x
PCI共同光路干涉弱吸收測(cè)量?jī)x

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北京

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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司

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測(cè)量原理

右圖,Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測(cè)樣品上,光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波,從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應(yīng),當(dāng)一束Probe beam(探測(cè)光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時(shí),探測(cè)光在該焦點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉,并產(chǎn)生周期性相位畸變信號(hào)。探測(cè)器通過探測(cè)其相位畸變情況并由鎖相放大器信號(hào)處理,*后由軟件計(jì)算顯示出待測(cè)樣品的吸收值。

PCI弱吸收儀特點(diǎn):

  • 精度高: 1 ppm;

  • 一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收;

  • 掃描速度快(幾分鐘);

  • 對(duì)樣品規(guī)格要求不高;

  • 操作方便、簡(jiǎn)單。

PCI弱吸收儀應(yīng)用領(lǐng)域:

  • 光學(xué)薄膜

  • 光學(xué)晶體材料

  • 光學(xué)鏡片

PCI弱吸收儀性能

  • 測(cè)量晶體(LBO、YVO4、KTP…)或光學(xué)產(chǎn)品(K9、BK7、UVFS…)內(nèi)部材料的弱吸收(體吸收)

  • 測(cè)量晶體或光學(xué)產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收

PCI 指標(biāo)說明

波長(zhǎng) 常規(guī)355、532、1064nm,其它波長(zhǎng)可定制
靈敏度體吸收:1ppm/cm;面吸收:1ppm
樣品規(guī)格
方形、圓形均可
*小尺寸(mm):3x3x3;
**尺寸(mm):50x50x50
其它尺寸可定制
測(cè)試速度常規(guī)2min/片(相對(duì)6mm厚度)
區(qū)分體、面吸收一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收
軟件掃描功能
AbMat-1D: 一維逐點(diǎn)掃描
AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式長(zhǎng)度/面/時(shí)間掃描

PCI 配置說明

1.光源
Probe光源
632nmHe-Ne 激光器(原裝進(jìn)口)
-**功率:2mw
-功率穩(wěn)定性:<0.1%
-發(fā)散角:1.3mrad
-偏振比:500:1
Pump光源
#1064nm 光纖激光器
-平均功率: 20W(CW)
-光束質(zhì)量M2:<1.5
-功率穩(wěn)定性:<2%(超過5 小時(shí))
-偏振:隨機(jī)
-制冷方式:風(fēng)冷
-偏振光系統(tǒng)
2.探測(cè)部分
原裝進(jìn)口
含鎖相放大器、光斬波器、探測(cè)器、功率計(jì)、二維調(diào)整架等。
3.載物臺(tái)部分
原裝進(jìn)口
含三維步進(jìn)電機(jī)、樣品支架等
4.光學(xué)元件部分反射鏡、透鏡、功率調(diào)節(jié)器等
5.軟件部分
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集,自動(dòng)保存,數(shù)據(jù)分析等。
一維逐點(diǎn)掃描
二維吸收立體掃描
6.其它說明
建議設(shè)備安裝在超凈間環(huán)境;
建議配UPS電源。

測(cè)量結(jié)果及儀器實(shí)物圖

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易用性

10分

性價(jià)比

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