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雙折射（應力）測量系統(tǒng)-Exicor® 150AT

Hinds 儀器的Exicor雙折射測量系統(tǒng)型號150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有足夠的多功能性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實驗室環(huán)境中均可勝任。 該模型廣泛用于研究和工業(yè)中測量組件; 如光掩膜和光刻膠、DVD空白、塑料薄膜、透鏡毛坯、激光晶體、手機顯示窗、注塑件等等。 臺式設計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為高價值精密光學元件和商品光學元件（高達150mm X 150mm）的日常評估的**選擇。

前沿靈敏度和重復性

使用Hinds儀器**光彈性調(diào)制器(PEM)技術，該系統(tǒng)提供**水平雙折射靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以50千赫的速率進行調(diào)制。前沿靈敏度和重復性很容易提供亞納米級的雙折射測量，對許多應用至關重要。

專為簡單、直接的操作而設計

一個大至6“x 6”（可選大尺寸）的光學樣品可以通過手動或自動映射和圖形顯示進行表征。 一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀的軟件就可以指導操作員完成步驟測量過程。 用戶界面軟件計算延遲值和快軸角度，并以各種格式顯示它們。 該軟件還提供文件管理和校準功能。

應用

質(zhì)量控制計量

低水平雙折射測量的有

• 平滑玻璃

• 科學光學元件

• 激光晶體

• DVDs

光刻組件的質(zhì)量驗證，包括

• 光掩模

• 熔石英光學元件

• 氟化鈣鏡片毛坯和窗口

主要特點

在低水平雙折射測量中具有

同時測量雙折射幅度和角度

精確度可重復性

高速測量

光學系統(tǒng)中無移動部件

可變尺寸光學元件的自動映

光彈調(diào)制器技術

簡單、便于用戶使用的操作

Exicor 150AT測量通過正在研究的光學樣品的光路上的延遲。它旨在測量和顯示樣品光學延遲的幅度和快軸取向。

獨特的設計（**申請中）消除了光學系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。氦氖激光束被偏振然后由PEM調(diào)制。調(diào)制后的光束透過樣品并由分光鏡分開。每束光束通過分析儀、光學濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。由Hinds 儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。當在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預定的測量位置。結(jié)果以用戶指定的格式即時顯示。