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一、概述

RT-V 系列反射透射測量儀，采用進口氘鹵二合一光源，結合高性能分光光譜儀，可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍樣品的反射率和穿透率光譜，并進一步計算獲得樣品色坐標，以及薄膜厚度、光學常數(shù)等信息。

■高性價比穿透率、反射率測量解決方案

■ 色坐標計算和薄膜特征解析

■ 模塊化定制，支持在線集成應用

二、產(chǎn)品特點

■ 采用高性能進口氘鹵二合一光源，光譜范圍覆蓋可見光到近紅外范圍；

■ 采用高性能分光光譜儀，可量測透明、低對比度、高反射率樣品；

■ 支持全光譜范圍反射率高精度量測，基于薄膜層上下界面反射光干涉原理，輕松解析單層至多層薄膜特征；

■ 支持紫外到近紅外光譜范圍內(nèi)的穿透率高精度、高穩(wěn)定性量測，并支持直接計算獲得對應色坐標；

三、測量實例

四、產(chǎn)品應用

RT系列反射透射測量儀，可實現(xiàn)各種透明、低對比度、高反射率樣品反射率和穿透率光譜快速精準測量，并進一步計算獲得樣品色坐標、薄膜樣品厚度及光學常數(shù)。廣泛應用于各種濾光片、濾鏡、鏡頭、玻璃、染色液、薄膜的測量。