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您可以將inVia拉曼的能力與掃描探針顯微鏡（SPM和AFM）聯(lián)用，在納米尺度上研究材料的組成、結(jié)構(gòu)和特性。

聯(lián)用系統(tǒng)優(yōu)勢：

1. 原位測量。無需在不同儀器之間移動樣品，節(jié)約時(shí)間，保證正確的分析區(qū)域。

2. inVia和SPM/AFM可同時(shí)作為獨(dú)立系統(tǒng)使用，而不會影響兩者的任何性能。

3. 得到豐富的樣品信息。使用AFM記錄樣品的形貌及相關(guān)物理特性。增加拉曼分析樣品化學(xué)信息的能力，以識別材料和非金屬化合物。

4. 可實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼測量（TERS），獲得納米尺度的化學(xué)信息。

選擇**的系統(tǒng)：

雷尼紹特殊設(shè)計(jì)的靈活的耦合臂可以用于將inVia與SPM或AFM光學(xué)整合。inVia具有極大的靈活性，能夠?qū)⑵渲苯玉詈系饺缦鹿?yīng)商的各種AFM和SPM上：

• Bruker Nano Surfaces

• Nanonics

• NT-MDT

• JPK

• Park