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拉曼-掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)使您能夠在單一系統(tǒng)內(nèi)全面地原位表征樣品性能。雷尼紹結(jié)構(gòu)與化學(xué)成分分析儀（SCA）接口使掃描電鏡（SEM）具有了inVia的拉曼分析能力。

inVia和SCA接口提供了一種SEM內(nèi)的分析技術(shù)，既補(bǔ)充了以光學(xué)顯微鏡為基礎(chǔ)的拉曼光譜，又克服了X射線能量散射譜（EDS）作為傳統(tǒng)SEM內(nèi)的分析技術(shù)的局限性。采用雷尼紹SEM-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)，您將受益于定位共同點(diǎn)的形貌、元素、化學(xué)、物理和電子分析。

聯(lián)用系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：

1. 原位測(cè)量。無需在不同儀器之間移動(dòng)樣品，節(jié)約時(shí)間，保證正確的分析區(qū)域。

2. inVia和SEM可同時(shí)作為獨(dú)立系統(tǒng)使用，而不會(huì)影響兩者的任何性能。

3. 得到豐富的樣品信息。使用SEM記錄樣品的高分辨圖像，并進(jìn)行元素分析。增加拉曼分析樣品化學(xué)信息的能力，以識(shí)別材料和非金屬化合物。

4. 還可進(jìn)行光致發(fā)光（PL）和陰極射線發(fā)光（CL）光譜測(cè)試。

選擇**的系統(tǒng)：

雷尼紹SCA接口具有非常高的普適性，可以配備到您現(xiàn)有的SEM上，基本不需要對(duì)SEM進(jìn)行改裝。SCA可以安裝到所有主要供應(yīng)商提供的SEM上，包括：

• Zeiss

• FEI

• TESCAN

• JEOL

• Hitachi