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X-Cite

臺(tái)式EDXRF光譜儀

多元素分析儀

能量色散X射線熒光光譜儀X-Cite

實(shí)用型臺(tái)式X射線熒光光譜儀X-Cite配備獨(dú)特幾何結(jié)構(gòu)的陽極靶及高功率X射線激發(fā)源，適用于傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái)，并集成完整計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、6個(gè)自定義濾光片及樣品托盤。

Xenemetrix臺(tái)式X射線熒光光譜儀采用高分辨率探測(cè)器及高性能X射線管，同時(shí)配備樣品相機(jī)及樣品盤，可容納多種尺寸類型的樣品。

為發(fā)揮系統(tǒng)**性能，獲得精確測(cè)量，濾光片可根據(jù)系統(tǒng)硬件配置為每次測(cè)量要求自適應(yīng)切換。

無損元素分析

通過使用標(biāo)樣或無標(biāo)樣方法（基本參數(shù)）對(duì)Na（11）- U（92）范圍元素進(jìn)行定性及定量分析。

X射線源

激發(fā)性能達(dá)40kV，18W，Rh靶材料，分析濃度探測(cè)限范圍可達(dá)ppm至100%，在復(fù)雜的應(yīng)用中表現(xiàn)其**的性能。

Analytix專用軟件

Analytix專用軟件支持在野外進(jìn)行操作并快速得到結(jié)果。

硅漂移探測(cè)器（SDD）

高計(jì)數(shù)率及分辨率的SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)125eV，探測(cè)元素范圍可達(dá)Na（11）- U（92）。

濾光片

考慮不同的應(yīng)用要求，6個(gè)管式濾光片可針對(duì)痕量元素和微量元素自定義快速準(zhǔn)確的切換。。

自動(dòng)校準(zhǔn)

系統(tǒng)可根據(jù)周圍環(huán)境的變化針對(duì)材料自動(dòng)校準(zhǔn)。

Analytix專用軟件

Analytix軟件能夠提供準(zhǔn)確全面，易于理解的分析結(jié)果，適用于多種應(yīng)用，并能夠高效的在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多種測(cè)量。

軟件采用高度直觀的界面設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單易用的GUI，適用于不同層次用戶，廣泛的應(yīng)用于各種元素工作任務(wù)。

Analytix可提供客戶-服務(wù)器操作員模式，這種模式支持通過WiFi或GPS進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)傳輸，并在其它位置遠(yuǎn)程輕松管理系統(tǒng)。分析過程可在現(xiàn)場(chǎng)完成，分析結(jié)果可傳輸至每個(gè)客戶端并伴隨相關(guān)的定位數(shù)據(jù)及測(cè)試識(shí)別信息。

X-Cite應(yīng)用領(lǐng)域