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Park NX10原子力顯微鏡的低噪聲Z探測器

• NX平臺的核心先進(jìn)技術(shù)

• 業(yè)界無可比擬的超低噪聲

• 默認(rèn)的形貌信號

Z軸探測器是全新NX系列原子力顯微鏡的核心技術(shù)之一。它是Park**的新型應(yīng)變傳感器。憑借著0.2埃的超低噪聲一躍成為行業(yè)內(nèi)噪聲*低的Z軸探測器。超低噪聲讓Z軸探測器可作為默認(rèn)的形貌信號，全新的NX系列原子力顯微鏡與前幾代的原子力顯微鏡的差異可輕易被觀察到。如果Z軸探測器的噪聲過高，用戶是無法觀察到藍(lán)寶石晶片的原子臺階的。Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測器所發(fā)出的高度信號，其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。

• 針尖磨損更低=高分率掃描更長久

• 無損式探針-樣品接觸=樣品受損*小化

• 可滿足各種條件下對各種樣品進(jìn)行非接觸式掃描

• 針尖磨損更快=模糊，低分辨率掃描

• 破壞性的探針-樣品接觸=樣品易受損

• 參數(shù)高依賴性

簡單的探針和樣品更換

獨(dú)有的設(shè)計能讓您輕易地用手從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂，無需再進(jìn)行繁雜的激光校準(zhǔn)工作。

閃電般快速的自動近針

自動的探針樣品進(jìn)針功能能讓用戶無需進(jìn)行干預(yù)操作。通過監(jiān)測懸臂接近表面的反應(yīng)，Park NX10能夠在懸臂裝載后十秒內(nèi)開始并自動快速完成探針樣品進(jìn)針操作。高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理使得無需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。

憑借我們先進(jìn)的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時SLD光便已聚焦完畢。此外，作為行內(nèi)**一家可以提供自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點。由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過旋轉(zhuǎn)兩個定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動光點。這樣您可以在激光準(zhǔn)直頁面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。此時您只需要稍微調(diào)整到**化信號，便可開始獲取數(shù)據(jù)。

掃描范圍為50 μm x 50 μm 的2D掃描器

XY軸掃描器有對稱的二維高強(qiáng)度壓電疊堆。它可為進(jìn)行精確的納米級樣品掃描，提供基本的面外高效正交運(yùn)動和高響應(yīng)能力。Park NX10的這種緊密剛硬的構(gòu)造具備低噪聲高速的伺服響應(yīng)能力。

低噪聲XYZ位置傳感器

行業(yè)**的低噪聲Z軸探測器代替Z電壓作為形貌信號。低噪聲XY閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。

自動步進(jìn)掃描

滑動嵌入SLD鏡頭的自主固定方式

您只需滑動嵌入燕尾導(dǎo)軌便可輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。該設(shè)計可將鏡頭自動鎖定至預(yù)對準(zhǔn)的位置，同時與復(fù)位精度為幾微米的電路系統(tǒng)相連接。借助于相關(guān)性低的SLD，顯微鏡可精確成像并可準(zhǔn)確測定力-距離曲線。

高級掃描探針顯微鏡模式和選項的擴(kuò)展槽

只需將可選模塊插入擴(kuò)展槽便可激活高級掃描探針顯微鏡模式。得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊設(shè)計，其生產(chǎn)線設(shè)備兼容性得到大大提高

高速24位數(shù)字控制器

所有NX系列的原子力顯微鏡都是由相同的NX電子控制器進(jìn)行控制和處理。 該控制器是個全數(shù)字，24位高速控制器，可確保True Non-Contact™模式下的成像精度和速度。憑借著低噪聲設(shè)計和高速處理單元，該控制器也是納米成像和精確電壓電流測量的**選擇。嵌入式數(shù)字信號處理為原子力顯微鏡帶來更為豐富的功能，更好的解決方案，是高級研究員的**選擇。

XY和Z軸檢測器的24位信號分辨率

• XY軸（50 μm）的分辨率為0.003nm

• Z軸（15 μm ）的分辨率為0.001 μm

嵌入式數(shù)字信號處理功能

• 三通道數(shù)碼鎖相放大器

• 彈簧系數(shù)校準(zhǔn)（熱方法）

• 數(shù)據(jù)Q控制

集成式信號端口

• 專用可編程信號輸入/輸出端口

• 7個輸入端口和3個輸出端口