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掃描探針顯微鏡的設(shè)計(jì)易于集成到電子顯微鏡中。 互補(bǔ)的SPM 和SEM 技術(shù)的結(jié)合使得能夠利用兩種常用顯微鏡技術(shù)的優(yōu)勢(shì)。
LiteScope™提供了廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式，可通過(guò)更換探針輕松使用。
表面形貌的表征
機(jī)械性能
電性能
磁性
聚焦離子束（FIB)
氣體注入系統(tǒng)（GIS）
用于制造納米/微結(jié)構(gòu)和表面修飾。通過(guò)這種組合，LiteScope™可以輕松快速地對(duì)制造的結(jié)構(gòu)進(jìn)行3D檢查。
獨(dú)特的相關(guān)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）
全球**的的相關(guān)電子顯微鏡技術(shù)
全面的表面表征–形貌，粗糙度，磁性能，電導(dǎo)率，電性能
樣本上的信息提示導(dǎo)航
不到五分鐘即可輕松集成和安裝/拆卸
隨插即用
與FIB，GIS，EDX和其他配件兼容
自感應(yīng)探頭，無(wú)需光學(xué)檢測(cè)，無(wú)需激光調(diào)整
商用探頭，多種測(cè)量模式
客戶定制的探頭可與根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)的合適探頭支架一起使用
測(cè)量頭可以縮回到LiteScope™的主體中，以釋放樣品周圍的空間
SPM在傾斜位置（傾斜0°– 60°）的操作，*小值 WD = 5毫米
用戶友好的軟件，無(wú)需特殊安裝
遠(yuǎn)程訪問(wèn)結(jié)果和測(cè)量設(shè)置
關(guān)聯(lián)顯微鏡是一種受益于兩種不同技術(shù)的同一對(duì)象成像的方法。
相關(guān)探針 和電子顯微鏡（CPEM）已開(kāi)發(fā)用于使用相關(guān)成像技術(shù)（正在申請(qǐng)**），并帶來(lái)了解決方案，該解決方案可以同步：
掃描區(qū)域
分辨率和圖像失真
并能夠?qū)崟r(shí)關(guān)聯(lián)采集的SPM和SEM圖像
CPEM技術(shù)是市場(chǎng)上同類產(chǎn)品中的**個(gè)，它允許在同一位置和同一時(shí)間使用同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)測(cè)量SPM和SEM。
通過(guò)電子掃描樣品進(jìn)行二維分析。
通過(guò)物理探針掃描樣品。
結(jié)合了兩種技術(shù)，并提供獨(dú)特的相關(guān)成像。
CPEM可以在同一時(shí)間和同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)中同時(shí)通過(guò)SEM和SPM對(duì)一個(gè)區(qū)域進(jìn)行同時(shí)的表面表征。
以已知的恒定偏移量和相同的分辨率進(jìn)行同時(shí)掃描，可確保在同一表面上進(jìn)行分析，并可通過(guò)我們的NenoView軟件直接用于在線成像。
LiteScope™通常用于高真空中，但也可根據(jù)要求適用于超高真空條件。
總重量：1 kg
真空工作范圍：10e5 Pa至10e-5 Pa
掃描范圍X，Y，Z：100×100 ×1 00μm或38x38x38μm
分辨率：高達(dá)0.4 nm或0.07 nm
**樣品尺寸：10毫米× 10毫米
**樣品高度：8毫米
我們提供完全非磁性的版本，也可根據(jù)要求提供閉環(huán)。
LiteScope™放置在SEM / FIB顯微鏡的載物臺(tái)上，甚至可以在傾斜位置進(jìn)行測(cè)量，例如與FIB技術(shù)同時(shí)使用。
外形小巧，體積小， 可集成到SEM / FIB儀器中
易于集成的過(guò)程 –安裝在SEM / FIB機(jī)械手上
當(dāng)整個(gè)SPM探針隱藏在LiteScopeTM主體中時(shí)，可使用對(duì)接選項(xiàng)
通用探頭支架，適用于多種SPM方法并易于“即插即用”組裝
樣品傾斜高達(dá)60°
針對(duì)低振動(dòng)水平（剛度和適當(dāng)?shù)墓舱耦l率）進(jìn)行了優(yōu)化的機(jī)械設(shè)計(jì)，集成了前置放大器（以盡可能消除信號(hào)失真/噪聲）
所有控制LiteScope™的電子設(shè)備都集成到一個(gè)控制單元中。該單元是標(biāo)準(zhǔn)的19英寸機(jī)架，可以輕松地安裝在SEM電子設(shè)備的空閑插槽上，也可以簡(jiǎn)單地自由放置以匹配手頭任務(wù)的需要。
動(dòng)態(tài)測(cè)量的**PLL頻率為75 kHz，適用于基于音叉的探頭（或使用外部PLL或根據(jù)客戶要求更高）
每個(gè)掃描軸2 × 16位DAC（掃描范圍，偏移），以在視場(chǎng)內(nèi)的任何地方達(dá)到**分辨率
6 × 16位輔助輸入，用于同時(shí)測(cè)量用戶信號(hào)（±10 V）
輸入通道可用于反饋回路混頻器
探頭信號(hào)輸出/監(jiān)控
外部探頭激勵(lì)
使用外部鎖定/ PLL所需的所有連接
以太網(wǎng)連接到控制PC
110 VAC或230 VAC操作，200 W
前置放大器位于LiteScope™的主體內(nèi)，可確保大大降低電噪聲
NenoView是用戶友好的軟件，它可以完全控制設(shè)置測(cè)量，數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理。NenoView 支持CPEM技術(shù)，并使其能夠直接和內(nèi)部利用相關(guān)成像。
保存數(shù)據(jù)以及所有信息，包括測(cè)量設(shè)置
基于Web的用戶界面
易于新用戶使用，對(duì)專家靈活
用戶帳戶可單獨(dú)配置
遠(yuǎn)程訪問(wèn)用戶數(shù)據(jù)
將數(shù)據(jù)從控制PC下載到本地計(jì)算機(jī)
通過(guò)平板電腦，智能手機(jī)等進(jìn)行遠(yuǎn)程實(shí)驗(yàn)控制
集成的數(shù)據(jù)后處理，分析，導(dǎo)出等
LiteScope™提供并支持各種SPM測(cè)量方法和探頭。
其設(shè)計(jì)的基石和*有價(jià)值的技術(shù)特征是通用探頭支架，可以非常輕松地“即插即用”安裝不同的探頭。
| Akiyama probes | Tuning fork based probes | PRS/A* | Pt/Ir wire | |
|---|---|---|---|---|
| STM (Scanning Tunneling Microscopy) | Yes | Yes | No | Yes |
| AFM – Contact Mode | No | No | Yes | No |
| AFM – Tapping Mode | Yes | Yes | Yes | No |
| AFM – Conductive Mode | No | Yes | No | No |
| MFM (Magnetic Force Microscopy) | No | Yes | No | No |
| KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy) | No | Yes | No | No |
| EFM (Electrostatic Force Microscopy) | No | Yes | No | No |
| FMM (Force Modulation Mode) | No | No | Yes | No |
| Local voltage measurement | No | Yes | No | Yes |
| Local current measurement | No | Yes | No | Yes |
* Piezo-Resistive Sensing / Active (PRSA) probes
接觸模式
在接觸模式下，尖端在整個(gè)樣品表面上“下垂”，并且可以直接使用懸臂的偏轉(zhuǎn)來(lái)測(cè)量表面的輪廓，或更常見(jiàn)的是，使用將懸臂保持在一定角度所需的反饋信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。恒定撓度。
輕敲模式
在輕敲模式下，驅(qū)動(dòng)探頭以其共振頻率或接近共振頻率垂直振蕩。這種振動(dòng)是通過(guò)探針（音叉），集成加熱器元件（PRSA）或懸臂支架（PRS）中的小型壓電元件的壓電特性實(shí)現(xiàn)的。這種振蕩的幅度通常在幾納米到200納米之間變化。
導(dǎo)電模式
C-AFM）是原子力顯微鏡（AFM）的一種變體，與形貌學(xué)同時(shí)測(cè)量電流以構(gòu)建研究樣品的電導(dǎo)率圖。電流流過(guò)顯微鏡的金屬涂層尖端和導(dǎo)電樣品。
EFM是一種動(dòng)態(tài)非接觸式原子力顯微鏡，可在其中探測(cè)靜電力。由于分離的電荷的吸引或排斥而產(chǎn)生該力。這是一個(gè)遠(yuǎn)距離作用力，可以從樣品中檢測(cè)出100 nm或更大的距離。
LiteScopeTM也可用作獨(dú)立的納米操縱器。將金屬尖端粘貼在樣品中所需的位置，然后測(cè)量局部電壓/電流。此模式不是顯微鏡技術(shù)，但可用于測(cè)量例如電子束感應(yīng)電流等。
FMM是在接觸模式下運(yùn)行的AFM成像的擴(kuò)展，用于檢測(cè)樣品表面機(jī)械性能的變化，例如彈性或附著力。
在FMM模式下，AFM尖端與樣品表面接觸時(shí)進(jìn)行掃描，并且Z反饋環(huán)與恒力模式AFM一樣保持恒定的懸臂撓度。
KPFM是一種掃描探針?lè)ǎ渲锌梢允褂门c宏觀Kelvin探針相同的原理來(lái)測(cè)量探針尖端與表面的局部接觸電勢(shì)差。AFM中的懸臂是一個(gè)參比電極，該參比電極與表面形成電容器，在該表面上以恒定間隔橫向掃描。懸臂不是像通常的AFM那樣以其機(jī)械共振頻率ω0從外部驅(qū)動(dòng)，盡管在此頻率下在尖端和表面之間施加了交流電壓。
MFM是原子力顯微鏡的一種模式，其中尖銳的磁化尖端可掃描磁性樣品；尖端樣品的磁性相互作用被檢測(cè)到并用于重建樣品表面的磁性結(jié)構(gòu)。
MFM可測(cè)量多種類型的磁相互作用，包括磁偶極-偶極相互作用，磁疇壁，磁渦旋等。MFM掃描通常使用非接觸式AFM（NC-AFM）模式。
STM是一種用于在原子水平上成像導(dǎo)電表面的技術(shù)。STM不僅可以用于超高真空，還可以在空氣，水以及各種其他液體或氣體環(huán)境中使用，溫度范圍從接近零開(kāi)爾文到幾百攝氏度。
該探頭基于石英音叉 和微機(jī)械懸臂
這種新型探頭的**優(yōu)點(diǎn)是，用戶可以通過(guò)一個(gè)探頭同時(shí)受益于音叉的極其穩(wěn)定的振蕩和硅懸臂的合理彈簧常數(shù)。
由NANOSENSORS提供
壓電電阻敏感有源（PRSA）探頭是硅懸臂梁，具有集成的壓電電阻橋和熱加熱器，用于自感應(yīng)和自觸發(fā)掃描探頭顯微鏡應(yīng)用。
壓電電阻集成到匹配的惠斯通電橋中，以優(yōu)化靈敏度并補(bǔ)償環(huán)境熱漂移。
由SCL-Sensor.Tech提供
石英音叉用于檢測(cè)尖端和表面之間的原子力。音叉的高剛度可實(shí)現(xiàn)非常低的振蕩幅度，而高Q因子可確保足夠的靈敏度。探頭可以具有一個(gè)導(dǎo)電尖端，該導(dǎo)電尖端可以連接到電子讀數(shù)器（用于導(dǎo)電AFM或隧穿電流讀數(shù)器），而不會(huì)與叉形電極發(fā)生串?dāng)_。樣品的磁性也可以通過(guò)帶有鐵磁尖端的音叉?zhèn)鞲衅鱽?lái)檢查。此外，有經(jīng)驗(yàn)的*終用戶可以使用各種尖端材料來(lái)構(gòu)造音叉?zhèn)鞲衅?，以調(diào)節(jié)所需的特性。
導(dǎo)線是用于STM測(cè)量的基本探針。
盡管Pt / Ir合金是*容易用于此目的的合金之一，但可以使用許多其他材料（例如金，鉬，鎳等）。導(dǎo)線可以被電化學(xué)蝕刻或機(jī)械切割以形成非常鋒利的尖端。這種探針還適合在納米操縱器模式下進(jìn)行本地電壓/電流測(cè)量。
LiteScope™是專為在“ 即插即用 ”模式下集成到不同制造商的SEM顯微鏡而設(shè)計(jì)的。我們提供可以根據(jù)客戶要求定制的適當(dāng)適配器和饋通。
LiteScope™易于安裝，只需通過(guò)四個(gè)螺釘將電子顯微鏡連接到樣品臺(tái)，即可將電纜插入已準(zhǔn)備好的真空饋通中。
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
NenoVision掃描電鏡下AFM的工作原理介紹？NenoVision掃描電鏡下AFM的使用方法？NenoVision掃描電鏡下AFM多少錢一臺(tái)？NenoVision掃描電鏡下AFM使用的注意事項(xiàng)NenoVision掃描電鏡下AFM的說(shuō)明書有嗎？NenoVision掃描電鏡下AFM的操作規(guī)程有嗎？NenoVision掃描電鏡下AFM的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？NenoVision掃描電鏡下AFM有現(xiàn)貨嗎？NenoVision掃描電鏡下AFM包安裝嗎？
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