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顆粒粒形粒度分析儀
顆粒粒形粒度分析儀

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

JX-2000

品牌

成都精新

產(chǎn)地

四川成都

樣本

暫無(wú)
成都精新粉體測(cè)試設(shè)備有限公司

白金會(huì)員

|

第18年

|

生產(chǎn)商

工商已核實(shí)

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核心參數(shù)
  • 誤差率:

    ≤1%
  • 分辨率:

    0.1μm
  • 重現(xiàn)性:

    1%
  • 儀器原理:

    圖像分析
  • 分散方式:

    濕法分散
  • 測(cè)量時(shí)間:

    30min
  • 測(cè)量范圍:

    0.5-3000μm
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產(chǎn)品介紹

       JX-2000B圖像分析系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。因?yàn)榉垠w形態(tài)各異,在借助激光粒度儀測(cè)試的同時(shí),選用顆粒圖像分析儀,可以更準(zhǔn)確的直觀粒度形貌,控制好產(chǎn)品質(zhì)量。


應(yīng)用領(lǐng)域

1、金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸鋇、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉:

2、玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、農(nóng)藥、催化劑等各種粉體或漿料。

3、也可以用于驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的手段和方法。


參數(shù)指標(biāo)

序號(hào)

項(xiàng)目

指標(biāo)

1

分析項(xiàng)目

粒度分布、長(zhǎng)徑比分布、圓形度分布等

2

測(cè)試范圍

0.5~3000μm

3

放大倍數(shù)

≤4000

4

光學(xué)放大倍數(shù)

1600

5

分辨率

≥0.1μm

6

顯微鏡

透反射顯微鏡(可選配國(guó)產(chǎn)/金相/進(jìn)口)

7

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)

300萬(wàn)像素/500萬(wàn)像素

8

目鏡

10X 、16X

9

物鏡

4X 、10X 、20X、 40X、100X

10

標(biāo)尺刻度

10μm

11

軟件運(yùn)行環(huán)境

Windows7 32位

12

接口方式

USB接口高速穩(wěn)定傳輸



儀器優(yōu)點(diǎn)

1. 軟件分析與處理功能

1.1 通過(guò)圖像分析軟件可直接觀察顯微鏡下的顆粒形貌,并進(jìn)行圖片采集。圖片可保存為JPG或BMP格式;軟件采集圖像后可調(diào)整圖像高度、寬度、分辨率等。根據(jù)不同倍數(shù)物鏡采集的圖像可設(shè)置相應(yīng)標(biāo)尺或網(wǎng)格,直觀顆粒大小。

1.2 自由切換粒徑單位,標(biāo)尺支持多種單位選擇,可在微米和毫米、厘米、英寸之間自由切換,方便小顆粒和大顆粒的進(jìn)一步處理。

1.3 圖像分析處理

1.3.1 色調(diào)處理:灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對(duì)比度調(diào)整;

1.3.2 圖像矯正:水平鏡像、垂直鏡像、90度(逆時(shí)針)、90度(順時(shí)針)、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小、任意比例縮放等;

1.3.3 測(cè)量單位:微米、毫米、厘米、英吋(任選);

1.3.4 圖像增強(qiáng):對(duì)比度均衡、膨脹、腐蝕等;

1.3.5 圖像處理:圖像銳化,邊緣平滑,二值化,面積濾波、邊界濾波,分析目標(biāo)擦除、孔洞填充,手工擦除,手工連接,粒子屬性查看等功能;

1.4 可以對(duì)多幅圖形進(jìn)行批量處理,增加顆粒數(shù)量,提高樣品的代表性,使處理結(jié)果更加準(zhǔn)確、真實(shí)、可靠。

1.5 軟件功能強(qiáng)大,可根據(jù)行業(yè)特殊要求,設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等專用軟件。

2.報(bào)告輸出

2.1 通過(guò)對(duì)圖像進(jìn)行處理后,電腦自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出顆粒個(gè)數(shù)、面積、周長(zhǎng)、體積、直徑、圓形度分布、長(zhǎng)徑比分布、粒度分布數(shù)據(jù),以及D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等特征值。

2.2 可將樣品彩色縮略圖顯示到報(bào)告中,樣品名稱、測(cè)試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭,可選多種報(bào)告格式。


創(chuàng)新點(diǎn)

儀器分二種型號(hào),技術(shù)原理、參數(shù)都相同,JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡,JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡,后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。

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暫無(wú)相關(guān)方案。
用戶評(píng)論

產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
評(píng)論內(nèi)容
暫無(wú)評(píng)論!
公司動(dòng)態(tài)
成都精新榮獲2023年度粉體行業(yè)“最受關(guān)注企業(yè)”

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崩潰角與休止角之間的關(guān)系

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粉體的比表面積怎么測(cè)量

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  • 顆粒粒形粒度分析儀的工作原理介紹?
  • 顆粒粒形粒度分析儀的使用方法?
  • 顆粒粒形粒度分析儀多少錢一臺(tái)?
  • 顆粒粒形粒度分析儀使用的注意事項(xiàng)
  • 顆粒粒形粒度分析儀的說(shuō)明書(shū)有嗎?
  • 顆粒粒形粒度分析儀的操作規(guī)程有嗎?
  • 顆粒粒形粒度分析儀的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎?
  • 顆粒粒形粒度分析儀有現(xiàn)貨嗎?
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