參考價(jià)格
面議型號(hào)
Morphologi 4品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
歐洲樣本
暫無測(cè)量范圍：
0.5 μm - 1300 μm誤差率：
N/A分辨率：
N/A重現(xiàn)性：
N/A儀器原理：
圖像分析分散方式：
N/A測(cè)量時(shí)間：
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Morphologi 4 是一個(gè)全自動(dòng)靜態(tài)圖像分析系統(tǒng)，可測(cè)量干粉顆粒，混懸液和濾膜上顆粒的粒徑和形貌。它旨在滿足多學(xué)科研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的多樣化需求，是昂貴且耗時(shí)的手動(dòng)顯微鏡的理想替代工具。由于完全自動(dòng)化運(yùn)行且數(shù)據(jù)分析簡(jiǎn)單，與手動(dòng)方法相比，節(jié)約大量的時(shí)間。僅需簡(jiǎn)單標(biāo)準(zhǔn)化操作程序 (SOP) 的驅(qū)動(dòng)操作，即可執(zhí)行可靠的可重復(fù)測(cè)量。謹(jǐn)慎控制并審視所有關(guān)鍵因素，從分散狀況、樣品聚焦和光源一直到數(shù)據(jù)分析和報(bào)告，提供可靠的數(shù)據(jù)結(jié)果。
顆粒粒度范圍廣泛，從 0.5 微米到 1300 微米以上，可對(duì)各種樣品進(jìn)行粒度測(cè)量
20 多種形態(tài)參數(shù)提供了高度詳細(xì)的描述，有助于您更深入地了解顆粒物
SOP 控制從樣品分散到數(shù)據(jù)分析的全過程，提供簡(jiǎn)單、自動(dòng)化的操作，確?？煽康目芍貜?fù)測(cè)量
自動(dòng)化“清晰邊緣(Sharp Edge)”分析，可檢測(cè)低對(duì)比度顆粒
高級(jí)手動(dòng)顯微鏡模式以及顆?；乜垂δ芸蓪?duì)預(yù)期之外的顆粒進(jìn)行更仔細(xì)的檢查
高分辨率顯微鏡能夠確保生成高質(zhì)量顆粒圖像，從而提供可靠的圖像分析數(shù)據(jù)
集成干粉分散裝置提供可重復(fù)的樣品分散，這對(duì)生成有意義的結(jié)果至關(guān)重要
專用樣品展示配件可實(shí)現(xiàn)各類樣品的檢測(cè)，包括懸浮液和濾膜上的樣
高級(jí)數(shù)據(jù)探索工具，可提供大量樣本知識(shí)
21 CFR Part 11 軟件選項(xiàng)確保了法規(guī)合規(guī)性
Morphologi 4 測(cè)量步驟分為四部分：
樣品制備
對(duì)單個(gè)顆粒和附聚物進(jìn)行空間分離對(duì)于生成有代表性的結(jié)果至關(guān)重要。 集成式干粉分散器使干粉樣品的制備過程變得簡(jiǎn)單且可重現(xiàn)。 所施加的分散能量可受到控制，從而可對(duì)一系列材料類型優(yōu)化測(cè)定流程。 無需爆炸性震動(dòng)顆粒即可實(shí)現(xiàn)分散，從而既可避免易碎顆粒受損，又能確保高團(tuán)聚度材料實(shí)現(xiàn)分散。 可利用能夠直接安裝到 Morphologi 4 自動(dòng)化樣品臺(tái)中的配件制備懸浮液樣品或過濾后的樣品。
圖像捕捉
儀器通過掃描光學(xué)顯微鏡下的樣品捕捉單個(gè)顆粒的圖像。 Morphologi 4 的光源可從下方或上方照射樣品，同時(shí)可對(duì)亮度實(shí)現(xiàn)控制。
圖像處理
利用自動(dòng)化“清晰邊緣(Sharp Edge)”分割分析或通過手動(dòng)控制的閾值，對(duì)顆粒進(jìn)行檢測(cè)并計(jì)算每個(gè)顆粒的形態(tài)屬性范圍。
生成結(jié)果
通過對(duì)數(shù)以千計(jì)的顆粒進(jìn)行分析，以統(tǒng)計(jì)學(xué)方式為每個(gè)參數(shù)構(gòu)建富有代表性的分布。 軟件中的圖表與數(shù)據(jù)分類選項(xiàng)，通過直觀的界面，確保直接從您的測(cè)量中選取相關(guān)數(shù)據(jù)。 每個(gè)顆粒單獨(dú)存儲(chǔ)的灰度圖像可為定量結(jié)果提供定性驗(yàn)證。
暫無數(shù)據(jù)！
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過程相對(duì)復(fù)雜、分析時(shí)間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊(cè) 
月壤分析最新突破近日，中科院地質(zhì)與地球物理研究所巖石圈演化與環(huán)境演變?nèi)珖攸c(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的研究團(tuán)隊(duì)（ 薛丁帥高級(jí)工程師和劉艷紅高級(jí)工程師為并列第一作者 ）聯(lián)合中國科學(xué)院國家天文臺(tái)在《Analytical C
活動(dòng)回顧近日，第十八屆藥機(jī)展（PMEC 2025 ）在上海新國際博覽中心落下帷幕，馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會(huì)所展示的顆粒、粉體等先進(jìn)表征技術(shù)備受業(yè)內(nèi)人士關(guān)注。稍顯遺憾的是很多行業(yè)
展期：2025年6月24日-26日展館：上海新國際博覽中心W5館地址：上海市浦東新區(qū)龍陽路2345號(hào)展位號(hào)：W5P10W5P10 馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日，馬爾文帕納科（Ma
粒度儀數(shù)據(jù)反映顆粒的大小分布，而分形維數(shù)則是對(duì)這種分布背后 “形態(tài)復(fù)雜性” 的量化。通過計(jì)算分形維數(shù)，能從傳統(tǒng)粒度分析中挖掘出更深層的結(jié)構(gòu)信息，為理解顆粒的形成機(jī)制、優(yōu)化制備工藝、預(yù)測(cè)性能提供重要依據(jù)
本文摘要SiC端面傾角度數(shù)會(huì)影響晶體生長動(dòng)力學(xué)、界面特性和器件的電場(chǎng)分布，決定了SiC功率器件的性能，傾角控制精度已從“工藝參數(shù)”升級(jí)為“核心競(jìng)爭(zhēng)力”，本文將介紹4°傾角及其方向的重要性，以及馬爾文帕
本文由馬爾文帕納科XRD應(yīng)用專家陳辰供稿本文摘要PLSR 偏最小二乘回歸（Partial Least Squares Regression）是一種常用于處理多重共線性數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)建模方法。用于XRD定量
馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的工作原理介紹？馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的使用方法？馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4多少錢一臺(tái)？馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4使用的注意事項(xiàng)馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的說明書有嗎？馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的操作規(guī)程有嗎？馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4有現(xiàn)貨嗎？馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4包安裝嗎？
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