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TMS-PRO和TMS-D能快速準確地測量各類手機及Pad面板的透過率，可用于同一面板多個小孔測量，實時顯示單、多點波長透過率數(shù)據(jù)及指定波段平均透過率數(shù)據(jù)、實時顯示半透波長及透過率等。
TMS-PRO（單通道） TMS-D（雙通道）
儀器特點：
采用大角度采集全穿透式測量
采用數(shù)字視頻對焦，使微小區(qū)域?qū)崿F(xiàn)精準測量
實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數(shù)據(jù)及半透波長檢測，自動調(diào)整顯示坐標范圍，可對批量樣品進行高效檢測及譜圖對比分析
可自定義測量方案，設置判定標準，自動判定“OK”和“NG”，使檢測更快速，結(jié)果更準確
高性能探測器，單次測量小于1秒，重復性高
可對多孔進行快速測量
*小測量孔徑可達φ0.3mm
應用范圍：
手機面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過率測量
弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測量
太陽膜、濾光片光學元件透光測量
功能特點：
可測雙孔定位 可調(diào)極小樣品檢測 樣品平臺可XY微調(diào)
數(shù)字相機視頻對焦
智能化出結(jié)果
質(zhì)量檢驗
用戶可以自定義質(zhì)量檢測項目，實時檢測和判斷任何波長的數(shù)據(jù)，并顯示OK或NG，使檢測更快，操作更方便。
技術參數(shù)：
型號 | TMS-PRO | TMS-D-Ⅰ | TMS-D-Ⅱ | |
|---|---|---|---|---|
| 測量系統(tǒng) | 全光譜 | 全光譜 | 全光譜 | |
| 檢測器 | Hamamatsu薄型背照式CCD | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu薄型背照式CCD | |
| 檢出限 | 0.05% | 0.1% | 0.05% | |
| 光度準確性 | 0.5% | 0.5% | 0.5% | |
| 光度重復性 | 0.2%（420~950nm） | 0.5%（420~950nm） | 0.2%（420~950nm） | |
| 波長檢測范圍 | 380-1100nm | 380-1000nm | 380-1100nm | |
| 信噪比（全信號） | 450:1 | 250:1 | 450:1 | |
| 波長重復率 | 0.1nm | |||
| 樣品測試平臺 | X、Y軸可調(diào) | |||
| 光源 | 高功率鹵素光源 | |||
| 光斑直徑 | ＞0.2~1mm（可選） | |||
| 樣品大小 | ≥0.3mm | |||
| 測量時間 | ＜0.2s | |||
| 對焦方式 | 數(shù)字相機視頻對焦 | |||
| 物鏡 | 10X | |||
| 軟件 | Qspec Suite V1.0，可顯示單、多點波長數(shù)據(jù)，可手動和自動保存數(shù)據(jù)，自動統(tǒng)計所測產(chǎn)品批號總數(shù)、良品、不良品的數(shù)量及百分比并以報表的形式一鍵導出，超差報警提示，可根據(jù)用戶標準校準機差。 | |||
操作系統(tǒng)/接口 | Windows 7~Windows 10/USB2.0 | |||
暫無數(shù)據(jù)！
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