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Sphere-3000光學元件反射率測量儀,能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/**反射率,適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量,還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
儀器特點:
CIE顏色測定 X Y色度圖,x,y,L,a,b,飽和度,主波長等;
顯微測定微小區(qū)域的反射率,物鏡對焦于被測物微小區(qū)域(φ60μm);
消除背面反射光,無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率;
技術參數(shù):
SPHERE-3000(II型) | SPHERE-3000(III型) | SPHERE-3000-NIR | |
---|---|---|---|
探測器 | Hamamatsu背照式2D-CCD | Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷) | Hamamatsu InGaAs探測器(制冷) |
檢測范圍 | 380~1100nm | 380~1100nm | 900~1700nm |
波長分辨率 | 1nm | 1nm | 3nm |
信噪比 | 450:1 | 1000:1 | 10000:1 |
相對檢測誤差 | <0.75% | <0.5% | <0.5% |
被測物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下(380nm~410nm) ±0.05%以下(410nm~900nm) | ±0.1%以下(380nm~400nm) ±0.05%以下(400nm~900nm) | ±0.1%以下 (1000~1650nm) |
測定方法 | 與標準物比較測定 | ||
單次測量時間 | <1s | ||
精度 | 0.3nm | ||
被測物N.A | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) | ||
被測物尺寸 | 直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)厚度>0.1mm(使用50×對物鏡時) | ||
被測物測定范圍 | 約φ100um(使用10×對物鏡時) 約φ60um(使用20×對物鏡時) 約φ30um(使用50×對物鏡時) | ||
設備重量 | 約22kg(光源外置) | ||
設備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
使用環(huán)境 | 水平且無振動的場所;溫度:23±5℃;濕度:60%以下、無結露; | ||
操作系統(tǒng) | Windows7~Windows10 | ||
軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定 |
暫無數(shù)據!