塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)ZEM-3

——定量測(cè)量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電阻

塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評(píng)估。作為ZEM的特點(diǎn)，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用一種儀器來(lái)測(cè)量。

設(shè)備特點(diǎn)：

◆ 擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；

◆ 測(cè)量是由計(jì)算機(jī)控制的，并且能夠在指定的溫度下執(zhí)行測(cè)量，并允許自動(dòng)測(cè)量消除背底電動(dòng)勢(shì)；

◆ 歐姆接觸自動(dòng)檢測(cè)功能（V-I圖）；

◆ 可以用適配器來(lái)測(cè)量薄膜；

◆ 可定制高阻型。

參數(shù)配置：

工作原理圖：

設(shè)備結(jié)構(gòu)：

樣品腔部分：

應(yīng)用方向：

對(duì)于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

可選功能：

1. 薄膜測(cè)量選件

2. 低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）

3. 高阻選件（**到10MΩ）

附：

熱電材料/器件測(cè)試設(shè)備

用戶單位

清華大學(xué)

中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)

上海交通大學(xué)

復(fù)旦大學(xué)

南方科技大學(xué)

武漢理工大學(xué)

中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

中國(guó)科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所