看了時間分辨精細陰極熒光顯微鏡的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
時間分辨精細陰極熒光分析系統(tǒng)
SEM-CL時間分辨精細陰極熒光分析系統(tǒng)是由瑞士attolight公司設(shè)計并制造的，并獲得R&D top100 創(chuàng)新大獎。
應用領(lǐng)域
– LED的性能和可靠性
– GaN功率晶體管
– 線位錯密度(TDD)
– 載流子壽命測試和動力學
– 晶體缺陷研究
– 太陽能電池的效率
– 納米尺度光電器件的研發(fā)
– 寬禁帶半導體研究
設(shè)備特點
• 可實現(xiàn)定量測量的陰極熒光分析系統(tǒng)SEM-CL
• 300μm直徑的視場
• 優(yōu)于10nm的空間分辨率
• 10ps的時間分辨率
• Schottky場發(fā)射槍（連續(xù)系統(tǒng)）和皮秒脈沖光電槍（時間分辨模式）
• 樣品溫度范圍：20K-300K，位移精度1nm
高性能光學與SEM系統(tǒng)：
簡單易用，大視野，高分辨
Attolight SEM-CL系統(tǒng)自帶有集成了光鏡的掃描電子顯微鏡（10nm空間分辨率）。光鏡被嵌入在掃描電鏡的電子物鏡，使兩者的視場相互匹配。獲取陰極熒光圖從未如此簡單：無需調(diào)準光路，光鏡的存在幫助完成了樣品定位。系統(tǒng)經(jīng)過優(yōu)化，在不犧牲掃描電鏡性能的同時獲得了優(yōu)越的陰極熒光性能。它提供了一個優(yōu)秀的光學光圈 (f/0.5)，和在整個視場范圍內(nèi)恒定的高光子收集效率。同時，它工作在低電子束的能量范圍內(nèi) (3-10kV)，可獲得更高分辨的陰極熒光圖。
Schottky場發(fā)射電子槍和皮秒脈沖光電子槍：
連續(xù)工作模式和時間分辨工作模式
電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數(shù)。attolight SEM-CL采用特殊設(shè)計的肖特基（Schottky）場發(fā)射電子槍，提供高亮度高相干的電子束，在樣品上產(chǎn)生的熒光空間分辨率好于10nm。
Attolight SEM-CL系統(tǒng)同時具有時間分辨選項的陰極熒光分析系統(tǒng)，可實現(xiàn)10ps時間分辨率。時間分辨的陰極熒光分析系統(tǒng)將是研究光電材料載流子動力學和壽命的**工具。
定量測量陰極熒光發(fā)光
Attolight SEM-CL系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)定量測量不同樣品的陰極熒光發(fā)光。受益于獨特的設(shè)計，它能夠甄別并發(fā)現(xiàn)超痕量雜質(zhì)，以及某些在其他成像模式下不可見的晶體缺陷的能力，為研究及開發(fā)半導體材料、熒光粉、陶瓷、巖石和玻璃提供了新的可能。
工作模式
• 光學顯微鏡成像
• 陰極熒光測繪（多色，單色和高光譜）
• 二次電子測繪
• 時間分辨陰極熒光（時間分辨選項）
• 二次電子和陰極熒光同步測繪
部分測試數(shù)據(jù)
時間和光譜分辨的氮化硼陰極熒光 | ZnO納米線上不同區(qū)域的熒光壽命研究 |
納米結(jié)構(gòu)在不同波長下的熒光發(fā)射區(qū)域變化 | 晶體缺陷研究（GaN晶體的堆垛層錯觀測） |
GaN表面TD觀測 | 太陽能板表面TiO2納米顆粒觀測 |
ZnO納米帶。CL圖像（左）的獲取不影響二次電子（右）的探測 | |
陰極熒光是探測GaN中線位錯密度的理想工具（左）。由于其附近的非輻射復合，它們在CL圖中顯示為暗點。同樣的區(qū)域通過二次電子掃描無法識別任何線位錯（右）。 | |
ZnO納米線-陰極熒光光譜分析 | |
量子點異質(zhì)結(jié) - 陰極熒光光譜測量 | |
金剛石 - 陰極熒光光譜分析 | |
光伏材料 - 陰極熒光光譜測量 | |
暫無數(shù)據(jù)！
時間分辨精細陰極熒光顯微鏡的工作原理介紹？時間分辨精細陰極熒光顯微鏡的使用方法？時間分辨精細陰極熒光顯微鏡多少錢一臺？時間分辨精細陰極熒光顯微鏡使用的注意事項時間分辨精細陰極熒光顯微鏡的說明書有嗎？時間分辨精細陰極熒光顯微鏡的操作規(guī)程有嗎？時間分辨精細陰極熒光顯微鏡的報價含票含運費嗎？時間分辨精細陰極熒光顯微鏡有現(xiàn)貨嗎？時間分辨精細陰極熒光顯微鏡包安裝嗎？
手機版：
工商已核實
