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碳納米管和石墨烯性能表征系統(tǒng)
隨著納米技術(shù)的不斷發(fā)展,碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科研人員的關(guān)注。然而,對于碳納米管和石墨烯性能表征一直是困擾碳納米管和石墨烯技術(shù)研究和應(yīng)用的主要障礙。目前,碳納米管和石墨烯測量方法是光譜測量技術(shù)。相對其他測量方法,該技術(shù)主要有以下的優(yōu)點(diǎn):
1、較高靈敏度,即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能精確測量。
2、較高測量精度,對碳納米管的(n,m)分辨率很高
3、對待測樣品要求低,可直接分析含較多雜質(zhì)的樣品。
4、測量設(shè)備相對簡單,準(zhǔn)備待測樣品非常容易。
5、數(shù)據(jù)處理簡單,測量結(jié)果無需考慮背景減除。
對于碳納米管和石墨烯的表征,雖然光譜測量技術(shù)有很大的優(yōu)點(diǎn),但是測量過程還是有些問題,如獲取數(shù)據(jù)速度太慢,測量靈敏度不是很高,手工處理數(shù)據(jù)非常繁瑣且容易出錯(cuò)等等。世界**的碳納米管專家美國萊斯大學(xué)的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授針對這些問題開發(fā)了碳納米管專用的測量系統(tǒng)NS3,使得NS3系統(tǒng)成為碳納米管和石墨烯專用測量系統(tǒng),可對碳納米管和石墨烯進(jìn)行吸收、熒光和拉曼光譜測量。
Nano Spectralyzer (NS3)系統(tǒng)
NS3上的測量結(jié)果:碳納米管的近紅外發(fā)射光譜
應(yīng)用領(lǐng)域: 1. 測量碳納米管(n,m)分布 2. 監(jiān)測碳納米管和石墨烯品質(zhì)的穩(wěn)定性 3. 測量化學(xué)反應(yīng)和物理作用的動態(tài)過程 主要特點(diǎn): 1. 高度集成化,體積小巧 2. 操作簡單,使用方便 3. 僅需要很少的樣品 4. 高測量靈敏度和測量速度 5. 簡單的操作界面,全自動測量和數(shù)據(jù)分析 6. 同時(shí)測量樣品近紅外波長的吸收和發(fā)射光譜 7. 采用電制冷材料冷卻近紅外光譜探頭,無需使用液氮 | 主要技術(shù)指標(biāo):熒光光譜測量: 可見區(qū)發(fā)射譜探測范圍: 400-900nm 近紅外發(fā)射譜探測范圍: 900-1600nm 可選近紅外發(fā)射譜探測范圍: -2000nm 吸收譜測量: 紫外吸收譜探測范圍: 210-450nm 可見吸收譜探測范圍: 400-900nm 紅外吸收譜探測范圍: 900-1600nm 可選紅外發(fā)射譜探測范圍: -2000nm 拉曼光譜測量: 拉曼光譜探測范圍: 150-3000cm-1 激發(fā)光源波長: 532和/或671nm |
暫無數(shù)據(jù)!