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美國樣本
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博曼O系列產(chǎn)品概述:
O系列采用毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu),測試性能良好,同時(shí)能實(shí)現(xiàn)小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細(xì)管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型中的準(zhǔn)直器組件。由于多導(dǎo)毛細(xì)管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號(hào),可以有效提高到達(dá)樣品表面的入射X射線強(qiáng)度。O系列配備高分辨率的SDD探測器,在短時(shí)間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù),在短時(shí)間內(nèi)滿足小斑點(diǎn)的測量的同時(shí)獲取準(zhǔn)確的測量結(jié)果(準(zhǔn)確性和重復(fù)性)。
該系列采用80μm毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu),同時(shí)配備可處理更高計(jì)數(shù)速率的高分辨率SDD硅漂移探測器。O系列的相機(jī)具有更大的放大倍數(shù),擁有45x視頻放大和5x數(shù)碼變焦。一個(gè)可編程的XY樣品臺(tái)也是標(biāo)準(zhǔn)配置。O系列的焦距非常接近,所以使用時(shí)樣品必須平整。
博曼O系列可滿足以下類型用戶的需求:
- 小樣品,如半導(dǎo)體,連接器或PCB
- 需要測試多個(gè)樣品的多個(gè)位置
- 需要測量非常薄的涂層(<100nm)
- 需要在短時(shí)間內(nèi)完成測量(1-5秒)
- 符合IPC-4552A
博曼O系列產(chǎn)品參數(shù):
類別 | 參數(shù) |
元素測量范圍: X射線管: 探測器: 分析層數(shù)及元素?cái)?shù): 濾波器/準(zhǔn)直器: 焦距: 數(shù)字脈沖器: 計(jì)算機(jī): 相機(jī): 電源: 重量: 可編程XY平臺(tái): 樣品倉尺寸: 外形尺寸: | 13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素 50 W鉬鈀射線管 80um毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu) 135eV及以上分辨率的硅漂移探測器 5層(4層+基材) 每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素 2位置一次過濾器 固定焦距(0.1") 4096 多通道數(shù)字處理器,自動(dòng)死時(shí)間和逃逸峰校正 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X雙攝像頭或45X單攝像頭 150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz 53kg 平臺(tái)尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5" 高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:340mm(13") 高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24") |
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