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臺(tái)階儀
臺(tái)階儀

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產(chǎn)地

日本

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上海瞬渺光電技術(shù)有限公司

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品牌日本KOSAKA型號(hào)ET200
測(cè)量范圍Max. 600μm測(cè)量精度0.001
電源電壓AC100V±10%,用途測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損

KOSAKA LAB ET 200

微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)(探針接觸式臺(tái)階儀

株式會(huì)社小坂研究所(KOSAKA)是于1950年創(chuàng)立的公司,也是日本**家發(fā)表光學(xué)

幹槓桿表面粗糙度計(jì),是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三

大部門。其中測(cè)定部門為**代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)佔(zhàn)有一席無(wú)法被取代的地位。

設(shè)備特點(diǎn)

KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析,包

括半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器

件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石(鉆石)探針接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精

度表面形貌分析應(yīng)用。ET 200能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損

度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。

ET 200配備了各種型號(hào)探針,提供了通過(guò)程序控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD

原位采集設(shè)計(jì),可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài),更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。

規(guī)格

一、測(cè)定工件:

1.**工件尺寸:φ160mm

2.**工件厚?50mm

3.**工件重量:2kg

二、檢出器(pick up):

1. Z方向測(cè)定範(fàn)圍:Max. 600μm

2. Z方向分解能:0.1nm

3.測(cè)定?min.1mgf,max.50mg

4.觸針半徑:2μm

5.驅(qū)動(dòng)方式:直動(dòng)式

6.再現(xiàn)性:1σ= 1nm

三、X(基準(zhǔn)軸)

1.移動(dòng)量(**測(cè)長(zhǎng))100mm

2.移動(dòng)的真直?0.2μm/100mm

3.移動(dòng)測(cè)定速?0.02 ~ 10mm/s

4.線性尺(linar scale):分解能0.1μm

四、Z軸:

1.移動(dòng)量:50mm

2.移動(dòng)速度:max.2mm/S

3.檢出器自動(dòng)停止機(jī)能

4.位置決定分解能:0.2μm

五、工件臺(tái):

1.工件臺(tái)尺寸:φ160mm

2.機(jī)械手動(dòng)傾斜:±1mm/150mm

?、工件觀察:max.110(可選購(gòu)其它高倍?CCD)

七、床臺(tái):材質(zhì)為花崗巖石

八、防振臺(tái)(選購(gòu))?地型或桌上型

九、電源:AC100V±10%,

50/60HZ, 300VA

十、本體外觀尺寸及重量:

W494×D458×H610mm, 120kg

(?含防震臺(tái))

KOSAKA LAB ET 200 臺(tái)階儀設(shè)備特點(diǎn): KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析,包括半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石(鉆石)****接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET 200能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。

ET 200配備了各種型號(hào)****,提供了通過(guò)程序控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD原位采集設(shè)計(jì),可直接觀察到****工作時(shí)的狀態(tài),更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。

規(guī)格 一、測(cè)定工件:

1. **工件尺寸:φ160mm

2. **工件厚度:50mm

3. **工件重量:2kg

二、檢出器(pick up):

1. Z方向測(cè)定範(fàn)圍:Max. 600μm

2. Z方向分解能:0.1nm

3. 測(cè)定力:min.1mgf,max.50mg

4. 觸針半徑:2 μm

5. 驅(qū)動(dòng)方式:直動(dòng)式

6. 再現(xiàn)性:1σ= 1nm

三、X 軸 (基準(zhǔn)軸):

1. 移動(dòng)量(**測(cè)長(zhǎng)):100mm

2. 移動(dòng)的真直度:0.2μm/100mm

3. 移動(dòng),測(cè)定速度:0.02 ~ 10mm/s

4. 線性尺(linar scale):分解能 0.1μm

四、Z軸:

1. 移動(dòng)量:50mm

2. 移動(dòng)速度:max.2mm/S

3. 檢出器自動(dòng)停止機(jī)能

4. 位置決定分解能:0.2μm

五、工件臺(tái):

1. 工件臺(tái)尺寸:φ160mm

2. 機(jī)械手動(dòng)傾斜: ± 1mm/150mm

六、工件觀察:max.110 倍(可選購(gòu)其它高倍率CCD)

七、床臺(tái):材質(zhì)為花崗巖石

八、防振臺(tái)(選購(gòu)):落地型或桌上型

九、電源:AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA

十、本體外觀尺寸及重量: W494×D458×H610mm, 120kg (不含防震臺(tái))

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10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
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