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PHL相位差測量儀WPA-200-MT
PHL相位差測量儀WPA-200-MT

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產地

日本

樣本

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北京歐屹科技有限公司

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主要簡介:

鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產過程中不可缺少的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項測量。

主要特點:

  • 搭載自動判定軟件,按下測量鍵,系統(tǒng)會根據之前設定好的雙折射大小進行產品是否合格判定,并輸出結果。

  • 客制化以滿足各種判定條件。

  • 能自動選擇需判定的區(qū)域。

運用實例:
  • 利用與產品的前期研發(fā),精確分析大量數據

  • 產線應用,簡單、高效的良品判定

  • 產品質檢 活用Data Log功能

主要參數:

項次

項目

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa

2

測量波長

520nm、543nm575nm

3

雙折射測量范圍

0-3500nm

4

測量*小分辨率

0.001nm

5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)

6

視野尺寸

34×40mm(標準)

7

選配鏡頭視野

6.3×7.5-17.5×21mm

8

選配功能

實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制,CD模式

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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
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