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產(chǎn)品介紹：

由狹縫造成的寄生散射是X射線分析中是眾所周知的問題，用戶和制造商不得不調(diào)整實(shí)驗(yàn)裝置以避免這種現(xiàn)象。更低光子通量造成實(shí)驗(yàn)時(shí)間增加，更大光束截捕器造成分辨率下降，額外配置防散射針孔造成光束塑形針孔到樣品距離增加，以及總體更低信噪比造成數(shù)據(jù)質(zhì)量下降。

新型SCATEX針孔基本不產(chǎn)生寄生散射，并且克服了上述問題：因此，防散射針孔可被移除，系統(tǒng)尺寸縮小，分辨率與光子通量提高，數(shù)據(jù)質(zhì)量得到改善。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 無針孔寄生散射

• 分辨率與光子通量增強(qiáng)

• 針孔的調(diào)整校準(zhǔn)更加簡(jiǎn)便快速

• 無需放散射針孔

• 可提供特殊的解決方案

• 同步輻射以及家庭實(shí)驗(yàn)室SAXS系統(tǒng)成功驗(yàn)證

應(yīng)用介紹：

常規(guī)實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)上的應(yīng)用

常規(guī)實(shí)驗(yàn)室中的SAXS儀器通常使用三針孔準(zhǔn)直系統(tǒng)，其中前兩個(gè)針孔用于限定光束的大小與發(fā)散角，第三個(gè)針孔充當(dāng)防輻射針孔以用來吸收孔徑產(chǎn)生的寄生散射，如下圖所示。

與此相反，SCATEX針孔在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室SAXS裝置應(yīng)用中具有很高的潛力，因?yàn)槠涮岣吖庾油客瑫r(shí)降低主光速路徑長(zhǎng)度。下圖中體現(xiàn)了SCATEX針孔大幅度抑制寄生散射。

Fig.2 Comparison of a conventional Pt/Ir pinhole and a SCATEX-Ge pinhole， both with 300 μm diameter. Measurement time: 100 s.

圖中的兩種類型針孔（即市售Pt/Ir常規(guī)針孔和SCATEX鍺針孔），其大小相同（均為300μm），其*后的成像效果都是在同樣的沒有放置防輻射針孔的兩針孔SAXS設(shè)備條件下進(jìn)行的。所測(cè)試的孔被在一次束并作為光束限定針孔居中地對(duì)準(zhǔn)。

同步輻射上的應(yīng)用

無散射鍺針孔

以下測(cè)試都是C.Gollwitzer在同步輻射（BESSY II）的PTB的具有四晶體單色器光束線站上進(jìn)行，其輸出能量為8kev，光通量大于1010ph/s。所有的測(cè)試針孔作為光束限定針孔被放置于主光束中心進(jìn)行校準(zhǔn)，同時(shí)沒有使用防輻射針孔。

下面對(duì)不同的針孔進(jìn)行了比較：

1、銅箔的500μm針孔；2、市售的500μmPt/Ir針孔；3、鍺制SCATEX針孔。即使在10倍的測(cè)量時(shí)間下，SCATEX針孔引起的寄生散射少2- 3個(gè)數(shù)量級(jí)。由于SCATEX針孔優(yōu)異的結(jié)構(gòu)質(zhì)量，其展示了在更高Q值空間散射的減少和環(huán)形的散射圖案。

Fig.3 Scattering intensity vs. q-plot. Data are corrected for respective exposure times and normalized to the primary beam photon flux and to the solid angle.

公司介紹：

德國Incoatec公司在基于薄膜技術(shù)的X射線光學(xué)器件方面擁有20年以上的經(jīng)驗(yàn)。Incoatec公司的光學(xué)器件被用于全世界的X射線衍射測(cè)量、光譜測(cè)定和同步加速器射束線上。主打產(chǎn)品包括用于各種領(lǐng)域和針對(duì)微焦點(diǎn)光源方案的多層X射線光學(xué)器件。用新的光學(xué)器件和X射線源來升級(jí)X射線分析設(shè)備。計(jì)算機(jī)化的光學(xué)器件模擬、各類襯底的生產(chǎn)和薄膜表征使INCOATEC的服務(wù)更為完善，為重工業(yè)，化學(xué)，制藥，半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，生命科學(xué)和納米技術(shù)提供解決方案，是可靠，高效和用戶友好型產(chǎn)品，具備德國制造的精髓。