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HTGB高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng)
HTGB高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng)

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HTGB高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng)

HTGB高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng)是一款動(dòng)態(tài)HTGB測(cè)試系統(tǒng)。其優(yōu)點(diǎn)是軟件控制的測(cè)試過(guò)程、大量的測(cè)試設(shè)備和調(diào)整試驗(yàn)參數(shù)的靈活性。該系統(tǒng)用高壓變化來(lái)刺激被測(cè)器件的柵極在許多應(yīng)用中,特別是在新技術(shù)方面。用高壓變化對(duì)器件參數(shù)的影響在靜態(tài)HTGB測(cè)試中是看不到的。對(duì)于像碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)這樣的新型寬禁帶器件來(lái)說(shuō),這種動(dòng)態(tài)HTGB技術(shù)尤其重要。

這套測(cè)試系統(tǒng)提供了柵閾值電壓的現(xiàn)場(chǎng)(就地)測(cè)量。通過(guò)中斷刺激,切換到測(cè)量電路,然后繼續(xù)刺激全自動(dòng)。每個(gè)DUT停止刺激和測(cè)量之間的時(shí)間是恒定的,以避免不同結(jié)果的影響。沒(méi)有這些預(yù)防措施,可重復(fù)性和可比性設(shè)備會(huì)有限制。

全自動(dòng)測(cè)量取代了通常需要的手動(dòng)測(cè)量讀數(shù)節(jié)省時(shí)間和成本,同時(shí)提高觀察視野。測(cè)量的閾值電壓分為Vth(向上)和Vth(向下),每一個(gè)都有一個(gè)可配置預(yù)處理階段。

測(cè)試通道:

工作臺(tái):10,20,40個(gè)

機(jī)架(42?。眨骸。矗啊ⅲ福?、120、160、200、240?。模眨裕?/span>

全自動(dòng)原位Vth測(cè)量:

測(cè)量時(shí)間間隔

可定制的門刺激曲線(預(yù)處理)

將測(cè)量數(shù)據(jù)記錄到TDMS文件中

測(cè)試參數(shù):

總測(cè)試時(shí)間(0-1500h)

外加漏極電壓(0V-2000V)

冷熱板溫度:20℃-200℃

門刺激V+?。ǎ埃郑常埃郑?、V- (-15V-0V)

門頻率(100Hz?。。玻埃埃耄龋?/span>

Vth測(cè)量間隔(10秒)

V測(cè)量電壓曲線

工作原理:

所設(shè)置的測(cè)試系統(tǒng)對(duì)高du/dt的柵極進(jìn)行刺激,以測(cè)試這些效應(yīng)的影響。

頻率比應(yīng)用中更快,以加速測(cè)試。

采用多次原位測(cè)量,顯示了趨勢(shì)和漂移。

應(yīng)用背景

•寬頻帶器件(SiC/GaN)在暴露于高du/dt時(shí)顯示出新的效果。

•這些效果會(huì)影響DUT的關(guān)鍵特性,從而影響應(yīng)用

•常規(guī)測(cè)試(H(3)TRB/HTGB)不存在這些影響

•全球標(biāo)準(zhǔn)化組織都在致力于發(fā)布動(dòng)態(tài)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

•作為德國(guó)汽車半導(dǎo)體工作組(ECPE AQG 324)的一部分參與該過(guò)程。

動(dòng)態(tài)高溫柵偏置功率半導(dǎo)體可靠性測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì),使其可擴(kuò)展性從40 個(gè)DUT到240個(gè)DUT的單個(gè)機(jī)架。這樣就可以在較小的占用空間上進(jìn)行有效的測(cè)試。

DUT被安排在抽屜里每40 個(gè)DUT,在應(yīng)用或工程環(huán)境中使用時(shí),可根據(jù)要求提供桌面變體。這個(gè)桌面是一種適合工程實(shí)驗(yàn)室使用的小架子。它包含一個(gè)抽屜和額外的改變,允許更多的儀器或刺激來(lái)獲得更多的觀察視野,非常適合SiC功率器件可靠性測(cè)試。

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HTGB高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng)信息由上海沃埃得貿(mào)易有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于HTGB高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來(lái)電或留言咨詢。
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