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RHC020-氣氛控制掃描開爾文探針
開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面*頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界**分辨率的測試系統(tǒng) RHC020 是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃，采用先進的電子和硬件系統(tǒng)即時監(jiān)測溫度和濕度變化，附加表面光伏SPV020及表面光電壓譜SPS030模塊，可對光敏感樣品進行強度或波長可變的激發(fā)。
技術(shù)參數(shù)： ● 2mm和50μm探針 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探針），5-10meV（50μm探針，光學(xué)防震臺） ● 50mmX50mm**掃描面積 ● 318納米定位分辨率 ● 跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離● 附加手動高度控制（25.4mm KP 平移） ● 過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容 ● 50mmX50mm樣品加熱器 ● 自動相對濕度控制至1%（10-100%RH）
選件 ● 直插型探針支架：2mm-50μm
● 自動溫度控制 ● 表面光伏模塊SPV020和SPS030
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