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掃描開(kāi)爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函由材料表面*頂部的1-3層原子或分子決定，因而開(kāi)爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界**分辨率的測(cè)試系統(tǒng)
主要特點(diǎn)：
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積：5mm to 300mm（四種型號(hào)，每種型號(hào)掃描面積不同） ● 掃描分辨率：317.5nm
● 自動(dòng)高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域： ● 有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體 ● 金屬 ● 薄膜 ● 太陽(yáng)能電池和有機(jī)光伏材料 ● 腐蝕
升級(jí)附件： ● 空氣光發(fā)射系統(tǒng) ● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對(duì)濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境箱
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