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“For Wafer” Perpendicular Magnetic Layer Evaluation System “晶片”垂直磁層評(píng)估系統(tǒng) | |
優(yōu)勢(shì) | |
測(cè)量垂直磁層12英寸的晶圓 | |
規(guī)格 | |
主要功能 | Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement (Polar Kerr Effect) |
光源 | Diode Laser |
探測(cè)光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁場(chǎng) | Max. ± 25Oe (2.5T) |
“For Wafer” In-Plane Magnetic Layer Evaluation System “晶片”平面磁層評(píng)估系統(tǒng) | |
優(yōu)勢(shì) | |
測(cè)量平面磁層12英寸的晶圓 | |
規(guī)格 | |
主要功能 | Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement (Longitudinal Kerr Effect) |
光源 | Diode Laser |
探測(cè)光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁場(chǎng) | Max. ± 2kOe (0.2T) |
“For Hard Disc” Perpendicular Magnetic Recording Layer Evaluation System “硬盤”垂直磁記錄層評(píng)估系統(tǒng) | |
優(yōu)勢(shì) | |
測(cè)量垂直磁性介質(zhì)的2.5英寸和3.5英寸的硬盤 | |
規(guī)格 | |
主要功能 | Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement (Polar Kerr Effect) |
光源 | Diode Laser |
探測(cè)光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁場(chǎng) | Max. ± 25kOe (2.5T) |
“For Hard Disc” Soft Under Layer (SUL) Evaluation System “硬盤”下軟層評(píng)估系統(tǒng) | |
優(yōu)勢(shì) | |
測(cè)量軟層下的2.5英寸和3.5英寸的硬盤 | |
規(guī)格 | |
主要功能 | Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement (Longitudinal Kerr Effect) |
光源 | Diode Laser |
探測(cè)光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁場(chǎng) | Max. ± 3kOe (0.3T) |
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