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μ-Kerr Effect Measurement System 磁光克爾效應系統(tǒng) | |
優(yōu)勢 | |
1.基于微觀局部磁性分析極向和縱向克爾效應(非同步量測) 2.適合敏感分析μm大小磁模式和磁性薄膜 | |
規(guī)格 | |
測量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect(Polar and Longitudinal Kerr Effect) |
主要功能 | Kerr Loop Measurement |
光源 | Diode Laser |
探測光斑 | φ2-5μm |
磁場 | Max. ±10kOe (1T) |
可選 | In-Plane Electromagnet |
μ-Kerr Effect Measurement and Magnetic Domain Observation System 克爾效應測量和磁疇觀測系統(tǒng) | |
優(yōu)勢 | |
1．微觀測量克爾效應和磁疇觀測 2.適合敏感分析μm大小磁模式和磁性薄膜 | |
規(guī)格 | |
測量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect (Polar and Longitudinal Kerr Effect) |
主要功能 | Kerr Loop Measurement and Magnetic Domain Observation |
光源 | Diode Laser and Mercury Lamp |
探測光斑 | φ2-5μm |
觀察分辨率 | 1μm (Typ.) with x50 objective lens |
磁場 | Max. ±10kOe (1T) |
可選 | Cryostat and others |
Polar Kerr Effect Measurement System 極向磁光克爾效應系統(tǒng) | |
規(guī)格 | |
測量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect (Polar Kerr Effect) |
主要功能 | Kerr Loop Measurement |
光源 | Diode Laser |
探測光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁場 | Max. ±20kOe (2T) |
Longitudinal Kerr Effect Measurement System 縱向磁光克爾效應設備 | |
規(guī)格 | |
測量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect (Longitudinal Kerr Effect) |
主要功能 | Kerr Loop Measurement |
光源 | Diode Laser |
探測光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁場 | Max. ±100 Oe (0.01T) |
Faraday Effect Measurement System 法拉第磁光克爾效應設備 | |
規(guī)格 | |
測量的方向 | Faraday Effect |
主要功能 | Faraday Measurement |
光源 | Diode Laser |
探測光斑 | φ2mm (Typ.) |
法拉第角范圍: | 45 degree |
磁場 | Max. ±10kOe (1T) |
Perpendicular Magnetic Anisotropy Analysis 垂直磁各向異性分析 | |
優(yōu)勢 | |
1.磁光克爾效應與機動旋轉(zhuǎn)電磁鐵磁場應用于角度依賴性分析 | |
規(guī)格 | |
測量的方向 | Magneto-Optical Kerr Effect |
主要功能 | Kerr Loop Measurement |
光源 | Diode Laser |
探測光斑 | φ1mm (Typ.) |
磁場 | Max. ±25kOe (2.5T) |
磁場旋轉(zhuǎn)范圍 | -10-100 degree |
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