參考價(jià)格
面議型號(hào)
掃描開爾文探針系統(tǒng)品牌
沃埃得產(chǎn)地
上海樣本
暫無看了掃描開爾文探針系統(tǒng)的用戶又看了
虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。
材料表面的功函數(shù)通常由*上層的1-3層原子或分子決定,所以開爾文探針是一種*靈敏的表面分析技術(shù)。
我們的開爾文探針系統(tǒng)包括:
□單點(diǎn)開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境);
□掃描開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境);
□超高真空(UHV)開爾文探針;
□濕度控制的腐蝕開爾文探針;
掃描開爾文探針系統(tǒng)
ASKP系統(tǒng)是一款可以被大多數(shù)客戶所接收的高端掃描開爾文探針系統(tǒng),它是在SKP基礎(chǔ)之上包括了彩色相機(jī)/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數(shù)字示波鏡等配置,其規(guī)格如下:
□2毫米,50微米探針;
□功函數(shù)分辨率 1-3 meV(2毫米針尖),5-10 meV(50微米針尖);
□針尖到樣品表面高度可以達(dá)到400納米以內(nèi);
□表面勢和樣品形貌3維地圖;
□探針掃描或樣品掃描選配;
□彩色相機(jī)、調(diào)焦鏡頭、TFT顯示器和專業(yè)的光學(xué)固定裝置;
□參考樣品(帶相應(yīng)的掃描開爾文探針系統(tǒng)的形貌);
□備用的針尖放大器;
暫無數(shù)據(jù)!