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本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五種夾具可選。


測(cè)試結(jié)果可得到：
熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。

優(yōu)點(diǎn)：
一個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行薄膜及塊體材料的鐵電和熱釋電性能進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)，如傳感器和執(zhí)行器
單一軟件進(jìn)行外部硬件控制（如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器）和數(shù)據(jù)采集
遠(yuǎn)程接入和腳本控制
選件可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫連接（ODBC）方便對(duì)材料/設(shè)備進(jìn)行表征
針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件
升級(jí)服務(wù)，用戶支持